0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

全球首臺光學(xué)拆鍵合設(shè)備發(fā)布,和激光拆鍵合有什么不同?

Felix分析 ? 來源:電子發(fā)燒友 ? 作者:吳子鵬 ? 2024-03-26 00:23 ? 次閱讀

電子發(fā)燒友網(wǎng)報道(文/吳子鵬)在芯片制造的過程中,拆鍵合是非常重要的一步。拆鍵合工藝是通過施加熱量或激光照射將重構(gòu)的晶圓與載板分離。在此過程中,熱敏或紫外線敏感膠帶層會軟化并失去附著力,從而有助于將晶圓與載板分離。

當(dāng)前,激光拆鍵合是主要的拆鍵合技術(shù)發(fā)展方向。激光拆鍵合技術(shù)是將臨時鍵合膠通過旋涂的方式涂在器件晶圓上,并配有激光響應(yīng)層,當(dāng)減薄、TSV加工和金屬化等后面工藝完成之后,再通過激光掃描的方式,分離超薄器件與載片,實(shí)現(xiàn)超薄器件的順利加工,最后進(jìn)行清洗。

剛剛提到,激光拆鍵合是目前行業(yè)的主流技術(shù)路線,不過就在SEMICON China前,ERS electronic公司正式發(fā)布了全球首臺光學(xué)拆鍵合設(shè)備,是Luminex產(chǎn)品線的首臺機(jī)器,適用于最大600 x 600 毫米的面板和不同尺寸的晶圓,帶來了顯著的成本下降和效率提升。

wKgZomYBUM6AIgG3AAV5ds_3ZmQ785.png

全球首臺光學(xué)拆鍵合設(shè)備

據(jù)悉,光學(xué)拆鍵合通過使用精準(zhǔn)可控的閃光燈將載體與基板分離。光學(xué)拆鍵合工藝的關(guān)鍵部件是帶有光吸收層(CLAL)的玻璃載板,它能將燈的光能轉(zhuǎn)化為熱能,從而順利實(shí)現(xiàn)分離。有了 CLAL,就不再需要對載板進(jìn)行涂層和清潔,從而減少了工藝步驟以及相關(guān)復(fù)雜程序和成本,與傳統(tǒng)的激光拆鍵合相比,可為用戶節(jié)省高達(dá)30%的運(yùn)營成本。

ERS electronic公司首席執(zhí)行官CEO Laurent Giai-Miniet強(qiáng)調(diào),光學(xué)拆鍵合是一種無外力的拆鍵合方法,不會有剩余膠體殘留,能夠給半導(dǎo)體制造廠商帶來顯著的效率提升。

ERS electronic公司副總裁ERS中國總經(jīng)理周翔稱,這是一款半自動的設(shè)備,通過使用精準(zhǔn)可控的閃光燈將載體與基板分離,它有很多突出的優(yōu)勢:
·CLAL的存在讓廠商無需對載板進(jìn)行涂層和清潔,從而減少了工藝步驟以及相關(guān)復(fù)雜程序和成本;
·相較于激光的方式,光學(xué)方案對晶圓更加友好,不需要額外的保護(hù)層,也不會有去膠不徹底的情況;
·光學(xué)拆鍵合效率更高,幾十秒內(nèi)就可以完全脫膠,1小時內(nèi)可以處理50+片晶圓,顯著提升芯片制造的效率;
·這臺光學(xué)拆鍵合設(shè)備在配套設(shè)備方面能夠平滑地替代激光拆鍵合設(shè)備,系統(tǒng)成本方面更有優(yōu)勢。

周翔談到,ERS electronic首臺光學(xué)拆鍵合設(shè)備的推出是半導(dǎo)體制造領(lǐng)域的一次重大飛躍,是從事先進(jìn)封裝開發(fā)或新產(chǎn)品引進(jìn)的研發(fā)團(tuán)隊的絕佳跳板。從四月份開始,這臺半自動設(shè)備將分別配備在ERS中國上海和德國的實(shí)驗(yàn)室,用于測試客戶的晶圓和面板樣品以及樣品演示,并將于本年第二季度末發(fā)布。

晶圓輪廓儀Wave3000

在2024年度ERS新產(chǎn)品發(fā)布會上,ERS electronic公司還介紹了該公司另一臺設(shè)備——晶圓輪廓儀Wave3000。

wKgZomYBUOKABzinAAK-XE7k2x8734.png

晶圓輪廓儀Wave3000是一款輕量級的晶圓輪廓儀,是可以幫助封測企業(yè)降低不良率的多功能測試平臺,可生成交互式晶圓三維3D視圖。

Laurent Giai-Miniet表示,“翹曲可以是由多種因素造成的,其中包括材料性質(zhì)差異、溫度波動以及處理和加工過程中的壓力。翹曲的晶圓不僅會引起工藝問題,還會導(dǎo)致生產(chǎn)出殘次品,降低良率?!?br />
Wave3000是一臺可以在一分鐘以內(nèi)精準(zhǔn)測量200到300毫米晶圓翹曲并加以分析的機(jī)器。機(jī)器內(nèi)置的掃描儀允許系統(tǒng)測量不同的晶圓表面和由不同材料制成的晶圓,比如硅晶圓、化合物晶圓等。

周翔稱,Wave3000具有高度的靈活性和精確性,可以測量翹曲、弓形以及晶圓厚度,這些都是避免降低良率、減少破損的關(guān)鍵特征。這款設(shè)備有手動版和全自動版兩個版本,手動版主要面向芯片設(shè)計企業(yè)和研究機(jī)構(gòu),全自動版則主要面向封測廠等批量生產(chǎn)的企業(yè)。

Wave3000擴(kuò)大了ERS electronic公司用于扇出式晶圓級封裝的自動、半自動和手動熱拆鍵合和翹曲矯正設(shè)備的產(chǎn)品組合。

結(jié)語

就在這場發(fā)布會前不久,ERS electronic宣布成立中國公司:上海儀艾銳思半導(dǎo)體電子有限公司,公司坐落于上海市嘉定區(qū)。ERS electronic自2018年進(jìn)入中國市場,發(fā)展非常迅速。

隨著首臺光學(xué)拆鍵合設(shè)備和晶圓輪廓儀Wave3000逐步進(jìn)入中國市場,相信ERS electronic在中國先進(jìn)封裝市場的聲音會越來越大,也會獲得更多認(rèn)可。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 光學(xué)
    +關(guān)注

    關(guān)注

    3

    文章

    740

    瀏覽量

    36112
  • 芯片制造
    +關(guān)注

    關(guān)注

    9

    文章

    607

    瀏覽量

    28750
收藏 人收藏

    評論

    相關(guān)推薦

    引線鍵合之DOE試驗(yàn)

    共賞好劇引線鍵合之DOE試驗(yàn)歡迎掃碼添加小編微信掃碼加入知識星球,領(lǐng)取公眾號資料 原文標(biāo)題:引線鍵合
    的頭像 發(fā)表于 11-01 11:08 ?130次閱讀

    鋁帶點(diǎn)根部損傷研究

    潘明東 朱悅 楊陽 徐一飛 陳益新 (長電科技宿遷股份公司) 摘要: 鋁帶合作為粗鋁線的延伸和發(fā)展,焊點(diǎn)根部損傷影響了該工藝的發(fā)展
    的頭像 發(fā)表于 11-01 11:08 ?1252次閱讀
    鋁帶<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>點(diǎn)根部損傷研究

    預(yù)鍍框架銅線的腐蝕失效分析與可靠性

    集成電路預(yù)鍍框架銅線封裝在實(shí)際應(yīng)用中發(fā)現(xiàn)第二點(diǎn)失效,通過激光開封和橫截面分析,
    的頭像 發(fā)表于 11-01 11:08 ?1123次閱讀
    預(yù)鍍框架銅線<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>的腐蝕失效分析與可靠性

    混合,成為“芯”寵

    要求,傳統(tǒng)互聯(lián)技術(shù)如引線鍵合、倒裝芯片和硅通孔(TSV)等,正逐步顯露其局限。在這種背景下,混合
    的頭像 發(fā)表于 10-18 17:54 ?266次閱讀
    混合<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>,成為“芯”寵

    電子封裝 | Die Bonding 芯片的主要方法和工藝

    DieBound芯片,是在封裝基板上安裝芯片的工藝方法。本文詳細(xì)介紹一下幾種主要的芯片的方法和工藝。什么是芯片合在半導(dǎo)體工藝中,“
    的頭像 發(fā)表于 09-20 08:04 ?500次閱讀
    電子封裝 | Die Bonding 芯片<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>的主要方法和工藝

    金絲工藝溫度研究:揭秘質(zhì)量的奧秘!

    在微電子封裝領(lǐng)域,金絲(Wire Bonding)工藝作為一種關(guān)鍵的電氣互連技術(shù),扮演著至關(guān)重要的角色。該工藝通過細(xì)金屬線(主要是金絲)將芯片上的焊點(diǎn)與封裝基板或另一芯片上的對應(yīng)焊點(diǎn)連接起來
    的頭像 發(fā)表于 08-16 10:50 ?1099次閱讀
    金絲<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>工藝溫度研究:揭秘<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>質(zhì)量的奧秘!

    點(diǎn)剪切力試驗(yàn)步驟和檢查內(nèi)容

    最近比較多客戶咨詢剪切力試驗(yàn)儀器以及如何測試剪切力?抽空整理了一份點(diǎn)剪切力試驗(yàn)步驟和已剪切的
    的頭像 發(fā)表于 07-12 15:11 ?430次閱讀
    <b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>點(diǎn)剪切力試驗(yàn)步驟和檢查內(nèi)容

    金絲強(qiáng)度測試儀試驗(yàn)方法:拉脫、引線拉力、剪切力

    金絲強(qiáng)度測試儀是測量引線鍵合強(qiáng)度,評估強(qiáng)度分布或測定
    的頭像 發(fā)表于 07-06 11:18 ?502次閱讀
    金絲<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>強(qiáng)度測試儀試驗(yàn)方法:<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>拉脫、引線拉力、<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>剪切力

    半導(dǎo)體芯片裝備綜述

    共讀好書 鄭嘉瑞 肖君軍 胡金 哈爾濱工業(yè)大學(xué)( 深圳) 電子與信息工程學(xué)院 深圳市聯(lián)得自動化裝備股份有限公司 摘要: 當(dāng)前,半導(dǎo)體設(shè)備受到國家政策大力支持,半導(dǎo)體封裝測試領(lǐng)域的半導(dǎo)體芯片裝備
    的頭像 發(fā)表于 06-27 18:31 ?1103次閱讀
    半導(dǎo)體芯片<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>裝備綜述

    金絲抗拉強(qiáng)度測試,推薦自動推拉力測試機(jī)!

    最近,客戶向小編咨詢推拉力測試機(jī),想要進(jìn)行金絲抗拉強(qiáng)度測試。在集成電路封裝領(lǐng)域,金絲技術(shù)扮演著至關(guān)重要的角色。無論是芯片與基板的連
    的頭像 發(fā)表于 06-03 18:04 ?669次閱讀
    金絲<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>抗拉強(qiáng)度測試,推薦自動推拉力測試機(jī)!

    銅絲的研究及應(yīng)用現(xiàn)狀

    共讀好書 周巖 劉勁松 王松偉 彭庶瑤 彭曉飛 (沈陽理工大學(xué) 中國科學(xué)院金屬研究所師昌緒先進(jìn)材料創(chuàng)新中心江西藍(lán)微電子科技有限公司) 摘要: 目前,銅絲因其價格低廉、具有優(yōu)良的材料性能等特點(diǎn)
    的頭像 發(fā)表于 02-22 10:41 ?948次閱讀
    <b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>銅絲的研究及應(yīng)用現(xiàn)狀

    金絲引線鍵合的影響因素探究

    共讀好書 劉鳳華 中電科思儀科技股份有限公司 摘要: 設(shè)備性能和人員技能的要求極高,屬于關(guān)鍵控制工序,質(zhì)量的好壞直接影響電路的可靠
    的頭像 發(fā)表于 02-02 17:07 ?710次閱讀
    金絲引線<b class='flag-5'>鍵合</b>的影響因素探究

    鋁質(zhì)焊盤的工藝

    共讀好書 姚友誼 吳琪 陽微 胡蓉 姚遠(yuǎn)建 (成都西科微波通訊有限公司) 摘要: 從鋁質(zhì)焊盤后易發(fā)生欠和過
    的頭像 發(fā)表于 02-02 16:51 ?803次閱讀
    鋁質(zhì)焊盤的<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>工藝

    晶圓設(shè)備及工藝

    隨著半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的飛速發(fā)展,晶圓設(shè)備及工藝在微電子制造領(lǐng)域扮演著越來越重要的角色。晶圓技術(shù)是一種將兩個或多個晶圓通過特定的工藝方法緊密
    的頭像 發(fā)表于 12-27 10:56 ?1326次閱讀
    晶圓<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b><b class='flag-5'>設(shè)備</b>及工藝

    凸點(diǎn)技術(shù)的主要特征

    自從IBM于20世紀(jì)60年代開發(fā)出可控塌陷芯片連接(Controlled Collapse Chip Connect,C4)技術(shù),或稱倒裝芯片技術(shù),凸點(diǎn)合在微電子封裝領(lǐng)域特別是芯片與封裝基板的
    的頭像 發(fā)表于 12-05 09:40 ?1476次閱讀
    凸點(diǎn)<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>技術(shù)的主要特征