滾動(dòng)軸承的可靠性與滾動(dòng)軸承的失效形式有著密切的關(guān)系,要提高軸承的可靠性,就必須從軸承的失效形式著手,仔細(xì)分析滾動(dòng)軸承的失效原因,才能找出解決失效的具體措施。今天我們通過PPT來了解一下軸承失效。
2023-09-15 11:28:5184 失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及,它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開發(fā)、改進(jìn),產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。
2023-09-12 09:51:47140 失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。
2023-09-06 10:28:05694 元器件老化 電子元器件的老化是元器件失效的常見原因之一。隨著元器件使用的時(shí)間的增長(zhǎng)和環(huán)境的影響,元器件內(nèi)部的材料、結(jié)構(gòu)等逐漸失去原有的性能,導(dǎo)致元器件的性能變差或無法工作。例如,電容器的電解液蒸發(fā)或泄露,導(dǎo)致
2023-08-29 16:35:16586 IC。然而,IC在使用過程中也可能出現(xiàn)失效的情況,從而影響到整個(gè)設(shè)備的使用效果。因此,對(duì)IC失效分析的研究變得越來越重要。 IC失效的原因有很多,例如因?yàn)楣に囘^程中的不良導(dǎo)致芯片內(nèi)部有缺陷,或者長(zhǎng)時(shí)間使用導(dǎo)致老化而出現(xiàn)失效等。為了找出IC失效的原因,在
2023-08-29 16:35:13250 芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展,各種芯片被廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)生產(chǎn)和家庭電器中。然而,在使用過程中,芯片的失效是非常常見的問題。芯片失效分析是解決這個(gè)問題的關(guān)鍵。 芯片
2023-08-29 16:29:111080 鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 鉭電容是一種電子元器件,通常用于將電場(chǎng)儲(chǔ)存為電荷的裝置。它們具有高電容和低ESR等優(yōu)點(diǎn),因此被廣泛應(yīng)用于數(shù)字電路、模擬電路和電源等領(lǐng)域。然而
2023-08-25 14:27:56555 很多人說貼片電容使用時(shí)會(huì)遇到電容燒毀等現(xiàn)象,那么碰到這些現(xiàn)象該如何應(yīng)對(duì)呢,首先我們需要先找到原因,下面小編給大家分析一下原因。
短路燒毀是指電容在PCB板工作時(shí)出現(xiàn)毀壞現(xiàn)象導(dǎo)致產(chǎn)品無法繼續(xù)工作造成這種原因的一般有:
2023-07-04 15:19:04519 根據(jù)相關(guān)電容技術(shù)工程師的分析,以下情況很容易導(dǎo)致貼片電容的開裂和故障:
1.在貼片過程中,如果貼片機(jī)吸嘴工作壓力過大,容易引起變形和裂紋;
2.如果顆粒的位置在邊緣或邊緣附近,在分割板時(shí)會(huì)受到分割板的驅(qū)動(dòng),導(dǎo)致電容器開裂,最終失效。建議設(shè)計(jì)時(shí)盡量將電容器與分隔線平行排放。
2023-06-25 17:15:591025 集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關(guān)的失效現(xiàn)象、形式(失效模式),查找封裝失效原因,確定失效的物理化學(xué)過程(失效機(jī)理),為集成電路封裝糾正設(shè)計(jì)、工藝改進(jìn)等預(yù)防類似封裝失效的再發(fā)生,提升
2023-06-21 08:53:40308 。
通過對(duì)TVS篩選和使用短路失效樣品進(jìn)行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征.結(jié)合器件結(jié)構(gòu)、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時(shí)所受的應(yīng)力等。采用理論分析和試驗(yàn)證明等方法分析導(dǎo)致7rvS器件短路失效的原因。
2023-05-12 17:25:482114 失效分析(FA)是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開發(fā)
2023-04-18 09:11:21813 分析設(shè)計(jì)原因引起的失效尤其要注意:對(duì)復(fù)雜構(gòu)件未作可靠的應(yīng)力計(jì)算;或?qū)?gòu)件在服役中所承受的非正常工作載荷的類型及大小未作考慮;甚至于對(duì)工作載荷確定和應(yīng)力分析準(zhǔn)確的構(gòu)件來說
2023-01-31 16:24:52461 SMT PCBA失效分析
2023-01-05 14:18:42693 而在多種失效模式中,電容漏電(低絕緣阻抗)是最常見的失效類型,其主要原因可分為制造過程中的內(nèi)在因素及生產(chǎn)過程中的外界因素。
2022-12-14 09:55:51810 電容擊穿的概念 電容的電介質(zhì)承受的電場(chǎng)強(qiáng)度是有一定限度的,當(dāng)被束縛的電荷脫離了原子或分子的束縛而參加導(dǎo)電,就破壞了絕緣性能,這一現(xiàn)象稱為電介質(zhì)的擊穿。 電容器被擊穿的條件 電容器被擊穿的條件達(dá)到擊穿
2022-11-30 17:42:151075 對(duì)于應(yīng)用工程師來說,芯片失效分析是最棘手的問題之一。之所以棘手,很無奈的一點(diǎn)便是:芯片失效問題通常是在量產(chǎn)階段,甚至是出貨后才開始被真正意識(shí)到,此時(shí)可能僅有零零散散的幾個(gè)失效樣品,但這樣的比例足以讓品質(zhì)部追著研發(fā)工程師進(jìn)行一個(gè)詳盡的原因分析。
2022-11-28 16:19:441335 MLCC由陶瓷介質(zhì)、端電極、金屬電極三種材料構(gòu)成。由于陶瓷的特性一般比較脆,所以會(huì)因?yàn)閼?yīng)力或溫度導(dǎo)致破裂或與金屬電極錯(cuò)位是MLCC失效的主要原因。陶瓷電容也同樣會(huì)應(yīng)為電應(yīng)力過大導(dǎo)致失效。MLCC
2022-11-28 15:40:572795 PCB失效的機(jī)理,必須遵守基本的原則及分析流程。一般的基本流程是,首先必須基于失效現(xiàn)象,通過信息收集、功能測(cè)試、電性能測(cè)試以及簡(jiǎn)單的外觀檢查,確定失效部位與失效模式,即失效定位或故障定位。
2022-11-09 14:35:48545 PCBA元器件發(fā)生脫落現(xiàn)象,據(jù)此進(jìn)行試驗(yàn)分析,查找失效原因。
2022-11-09 08:59:10632 案例背景 PCBA組裝后功能測(cè)試不良,初步判斷為電感剝離導(dǎo)致失效。 ? 分析過程 · 外觀分析 ? NOTE:對(duì)樣品進(jìn)行外觀分析,電感端子與焊盤焊錫完全剝離。 電感旁的電容一端與焊盤剝離圖 電容本體
2022-10-25 14:17:29422 電容器件失效分析技術(shù),介紹常見的電容器件失效機(jī)理。
多層片狀陶介電容器由陶瓷介質(zhì)、端電極、金屬電極三種材料構(gòu)成,失效形式為
金屬電極和陶介之間層錯(cuò),電氣表現(xiàn)為受外力(如輕輕彎曲板子或用烙鐵頭碰一
下)和溫度沖擊(如烙鐵焊接)時(shí)電容時(shí)好時(shí)壞。
2022-10-24 14:40:282 失效分析是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。失效分析是確定芯片失效機(jī)理的必要手段。失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。失效分析為
2022-10-12 11:08:483631 一起貼片陶瓷電容失效事件,失效模式為短路,電容表面有裂紋,對(duì)于這顆電容進(jìn)行分析失效,經(jīng)過梳理,造成器件(MLCC)的失效各種可能性。
2022-09-08 15:17:193204 PCB在實(shí)際可靠性問題失效分析中,同一種失效模式,其失效機(jī)理可能是復(fù)雜多樣的,因此就如同查案一樣,需要正確的分析思路、縝密的邏輯思維和多樣化的分析手段,方能找到真正的失效原因。避免造成“冤假錯(cuò)案”發(fā)生。
2022-07-19 09:27:481746 馬達(dá)產(chǎn)品在客戶端運(yùn)行一段時(shí)間后,發(fā)生功能失效。經(jīng)過初步檢測(cè),新陽檢測(cè)中心(下文簡(jiǎn)稱中心)判斷該問題是組件中的MLCC電容發(fā)生失效導(dǎo)致的。
2022-06-10 09:39:301709 PCB在實(shí)際可靠性問題失效分析中,同一種失效模式,其失效機(jī)理可能是復(fù)雜多樣的,因此就如同查案一樣,需要正確的分析思路、縝密的邏輯思維和多樣化的分析手段,方能找到真正的失效原因。在此過程中,任何一個(gè)
2022-02-11 15:19:0124 通過對(duì)NG樣品、OK樣品進(jìn)行了外觀光學(xué)檢查、金相切片分析、SEM/EDS分析及模擬試驗(yàn)分析,認(rèn)為造成陶瓷電容耐壓不良原因為二次包封模塊固化過程中及固化后應(yīng)力作用造成陶瓷-環(huán)氧界面存在間隙,導(dǎo)致其耐壓
2021-12-11 17:05:171652 或斷裂;致命失效 ――絕緣子破裂;致命失效 ――絕緣子表面飛?。徊糠止δ?b style="color: red">失效 引起電容器失效的原因是多種多樣的。各類電容器的材料、結(jié)構(gòu)、制造工藝、性能和使用環(huán)境各不相同,失效機(jī)理也各不一樣。 各種常見失效模式的主要產(chǎn)
2021-12-11 10:13:532422 DPA分析,下面會(huì)選擇性提供一些圖片分享。 電極開路失效機(jī)理解析: 一般由于內(nèi)電極沒有鍍上鎳,在過爐的時(shí)候,由于內(nèi)電極沒有鍍上鎳不耐焊被“吃掉”,形成開路導(dǎo)通,導(dǎo)致電阻器開路失效。 ? 為什么沒有鍍上鎳,原因有很多種,
2021-12-11 10:11:592323 哲學(xué)上有句話說:找到了真正的問題,也就成功了一半。 LED在生產(chǎn)和使用過程中往往受到各種應(yīng)力和環(huán)境因素的影響,達(dá)不到預(yù)期的壽命或功能,即發(fā)生失效現(xiàn)象。失效分析是一門新興發(fā)展中的學(xué)科,在提高產(chǎn)品質(zhì)量
2021-11-06 09:35:14475 哲學(xué)上有句話說:找到了真正的問題,也就成功了一半。 LED在生產(chǎn)和使用過程中往往受到各種應(yīng)力和環(huán)境因素的影響,達(dá)不到預(yù)期的壽命或功能,即發(fā)生失效現(xiàn)象。失效分析是一門新興發(fā)展中的學(xué)科,在提高產(chǎn)品質(zhì)量
2021-11-04 10:13:37504 ,導(dǎo)致LED驅(qū)動(dòng)電源失效的原因很多,可歸納為以下7大類。 1.電子元器件老化 金鑒實(shí)驗(yàn)室會(huì)針對(duì)電阻、電容、二極管、三極管、LED、連接器、IC等器件開路、短路、燒毀、漏電、功能失效、電參數(shù)不合格、非穩(wěn)定失效等各種失效問題,利用物理和化學(xué)的分析手段
2021-11-01 15:16:321701 開關(guān)電源中功率器件的失效原因分析及解決方案(通信電源技術(shù)基礎(chǔ)知識(shí))-開關(guān)電源中功率器件的失效原因分析及解決方案? ? 開關(guān)電源各重要器件的失效分析
2021-09-16 10:23:3589 失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng),在提高產(chǎn)品質(zhì)量、技術(shù)開發(fā)、改進(jìn)
2021-08-26 17:15:592187 `本文將普通的LED的功能和設(shè)計(jì)總結(jié),指出一些常見的故障原因,并介紹適合每個(gè)類型的故障修復(fù)方法?!縇ED 失效分析報(bào)告(英文)[hide][/hide]`
2011-10-25 16:13:54
電器是通過電流的運(yùn)動(dòng)來實(shí)現(xiàn)運(yùn)作的,而電容則是通過電器電壓來達(dá)到容電效果,這種類型的產(chǎn)品在使用過程中經(jīng)常都會(huì)遇到一個(gè)比較致命的問題那就是短路,產(chǎn)品一旦短路,無非就是內(nèi)部的電容出現(xiàn)失效或者破損的現(xiàn)象,所以分析并解決導(dǎo)致短路現(xiàn)象的原因很重要。
2021-05-18 16:35:365876 SMD鋁電解電容失效原因分析: 一、電參數(shù)惡化 ①電容量下降與損耗增大 鋁電解電容器的電容量在工作早期緩慢下降,這是由于負(fù)荷過程中工作電解液不斷修補(bǔ)并增厚陽極氧化膜所致。鋁電解電容器在使用后期,由于
2021-04-28 15:42:492930 電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供鉭電容失效的兩大類原因資料下載的電子資料下載,更有其他相關(guān)的電路圖、源代碼、課件教程、中文資料、英文資料、參考設(shè)計(jì)、用戶指南、解決方案等資料,希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2021-04-08 08:53:3557 電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供不同種類電容的失效分析資料下載的電子資料下載,更有其他相關(guān)的電路圖、源代碼、課件教程、中文資料、英文資料、參考設(shè)計(jì)、用戶指南、解決方案等資料,希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2021-04-01 08:57:1117 電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供陶瓷電容失效分析資料下載的電子資料下載,更有其他相關(guān)的電路圖、源代碼、課件教程、中文資料、英文資料、參考設(shè)計(jì)、用戶指南、解決方案等資料,希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2021-03-29 16:47:1115 熱擊失效的原理是:在制造多層陶瓷電容時(shí),使用各種兼容材料會(huì)導(dǎo)致內(nèi)部出現(xiàn)張力的不同熱膨脹系數(shù)及導(dǎo)熱率。當(dāng)溫度轉(zhuǎn)變率過大時(shí)就容易出現(xiàn)因熱擊而破裂的現(xiàn)象
2021-03-03 16:59:175000 鉭電容失效原因分析,鋰電容器全稱是鉭電解電容,也是屬于電解電容的一種。固體鉭電容器是1956年由美國(guó)貝樂試驗(yàn)室首先研制成功。鉭電容器使用鉭金屬做介質(zhì),不需要像普通電解電容那樣使用電解液,也不需要
2020-12-01 08:56:384062 你是否長(zhǎng)時(shí)間糾纏于線路板的失效分析?你是否花費(fèi)大量精力在樣板調(diào)試過程中?你是否懷疑過自己的原本正確的設(shè)計(jì)?也許許多硬件工程師都有過類似的心理對(duì)話。有數(shù)據(jù)顯示,78%的硬件失效原因是由于不良的焊接和錯(cuò)誤的物料貼片造成的。
2020-10-17 11:00:231980 都會(huì)遇上同樣一個(gè)問題,就是在使用中出現(xiàn)失效問題,CBB電容失效有些什么原因呢,如何解決失效原因呢。照成CBB電容失效分析有以下幾個(gè)原因
2020-03-01 16:21:006169 常見的安規(guī)電容有在開關(guān)電源中應(yīng)用,安規(guī)電容失效與普通電容不一樣,安規(guī)電容失效后不會(huì)導(dǎo)致人身受到傷害,因此安規(guī)電容的保障系數(shù)是大家公認(rèn)的。安規(guī)電容出現(xiàn)膨脹的原因有哪些呢,一起跟小編了解下!
2020-03-01 15:33:002739 要獲得PCB失效或不良的準(zhǔn)確原因或者機(jī)理,必須遵守基本的原則及分析流程,否則可能會(huì)漏掉寶貴的失效信息,造成分析不能繼續(xù)或可能得到錯(cuò)誤的結(jié)論。一般的基本流程是,首先必須基于失效現(xiàn)象,通過信息收集、功能測(cè)試、電性能測(cè)試以及簡(jiǎn)單的外觀檢查,確定失效部位與失效模式,即失效定位或故障定位。
2019-10-04 17:19:00624 貼片電容(多層片式陶瓷電容器)是目前用量比較大的常用元件,生產(chǎn)的貼片電容來講有NPO、X7R、Z5U、Y5V等不同的規(guī)格,不同的規(guī)格有不同的用途。在使用過程中我們也經(jīng)常會(huì)遇到各種各樣的問題,帶給我們不小的影響,本文主要針對(duì)的是貼片電容失效的情形,分析其產(chǎn)生的原因以及對(duì)此應(yīng)對(duì)的辦法。
2019-08-28 11:14:198732 使用鉭電容了。其實(shí)如果我們能夠全面的了解鉭電容的特性,找到鉭電容失效(表現(xiàn)形式為燒毀或爆炸)的原因,鉭電容并沒有那么可怕。畢竟鉭電容的好處是顯而易見的。鉭電容失效的原因總的來說可以分為鉭電容本身的質(zhì)量問題
2018-09-04 09:36:1725430 電容器在工作應(yīng)力與環(huán)境應(yīng)力綜合作用下,工作一段時(shí)間后,會(huì)分別或同時(shí)產(chǎn)生某些失效模式。同一失效模式有多種失效機(jī)理,同一失效機(jī)理又可產(chǎn)生多種失效模式。失效模式與失效機(jī)理之間的關(guān)系不是一一對(duì)應(yīng)的。
2018-08-07 17:45:565049 或者全失效會(huì)在硬件電路調(diào)試上花費(fèi)大把的時(shí)間,有時(shí)甚至炸機(jī)。今天主要說的是電容器,電阻器和電感。 電容器失效模式與機(jī)理 電容器的常見失效模式有:擊穿短路;致命失效開路;致命失效電參數(shù)變化(包括電容量超差、損耗
2018-06-07 15:18:136905 電容器的常見失效模式有:――擊穿短路;致命失效――開路;致命失效――電參數(shù)變化(包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降或漏電流上升等;部分功能失效――漏液;部分功能失效――引線腐蝕或斷裂;致命失效――絕緣子破裂;致命失效――絕緣子表面飛??;
2018-03-15 11:00:1025553 多層片狀陶介電容器由陶瓷介質(zhì)、端電極、金屬電極三種材料構(gòu)成,失效形式為金屬電極和陶介之間層錯(cuò),電氣表現(xiàn)為受外力(如輕輕彎曲板子或用烙鐵頭碰一下)和溫度沖擊(如烙鐵焊接)時(shí)電容時(shí)好時(shí)壞。
2017-12-22 16:08:0320417 CBB電容無極性,絕緣阻抗很高,頻率特性優(yōu)異(頻率響應(yīng)寬廣),而且介質(zhì)損失很小。基于以上的優(yōu)點(diǎn),所以薄膜電容器被大量使用在模擬電路上。尤其是在信號(hào)交連的部份,必須使用頻率特性良好,介質(zhì)損失極低的電容器,方能確保信號(hào)在傳送時(shí)。
2017-12-12 16:30:228607 陶瓷電容失效
2017-10-18 08:48:3123 分析,認(rèn)為造成陶瓷電容耐壓不良原因為二次包封模塊固化過程中及固化后應(yīng)力作用造成陶瓷-環(huán)氧界面存在間隙,導(dǎo)致其耐壓水平降低。
2016-10-11 17:47:1229652 判斷失效的模式, 查找失效原因和機(jī)理, 提出預(yù)防再失效的對(duì)策的技術(shù)活動(dòng)和管理活動(dòng)稱為失效分析。
2012-03-15 14:21:36119 大電解電容爆炸原因分析
導(dǎo)至發(fā)熱,溫度過高而爆炸:1:使用了低頻電容,低頻電容的內(nèi)阻一般較大.易發(fā)熱.負(fù)載越大越熱.2:電容耐壓過低,(只有
2010-01-14 10:45:257484 LED失效分析方法簡(jiǎn)介
和半導(dǎo)體器件一樣,發(fā)光二極管(LED)早期失效原因分析是可靠性工作的重要部分,是提高LED可靠性的積極主動(dòng)的
2009-11-20 09:43:531245 通過系統(tǒng)分析發(fā)動(dòng)機(jī)機(jī)油早期失效的原因,闡述在選擇機(jī)油、使用和維護(hù)發(fā)動(dòng)機(jī)、適時(shí)更換機(jī)油等方面的正確方法和措施。關(guān)鍵詞:發(fā)動(dòng)機(jī)機(jī)油 早期失效 原因分析 預(yù)防措施A
2009-07-25 09:19:4512 失效分析是指研究產(chǎn)品潛在的或顯在的失效機(jī)理,失效概率及失效的影響等,為確定產(chǎn)品的改進(jìn)措施進(jìn)行系統(tǒng)的調(diào)查研究工作,是可靠性設(shè)計(jì)的重要組成部分。失效
2009-07-03 14:33:233331 氣動(dòng)換向閥是氣壓傳動(dòng)系統(tǒng)中重要的控制元件。分析氣動(dòng)換向閥失效的原因,是為了防止因換向閥失效引起系統(tǒng)工作失常。文章從換向不靈活、泄漏、操縱力不足、電磁線圈燒壞4 個(gè)
2009-06-17 16:05:4535 鈦液泵軸封的失效原因及改進(jìn)設(shè)計(jì)
論文摘要:在對(duì)鈦液泵原有軸封的失效原因進(jìn)行分析和實(shí)驗(yàn)研究的基礎(chǔ)上,篩選出適合的摩擦副材料,并提出了
2009-05-16 00:11:111042 鈦液泵軸封的失效原因及改進(jìn)設(shè)計(jì)
論文摘要:在對(duì)鈦液泵原有軸封的失效原因進(jìn)行分析和實(shí)驗(yàn)研究的基礎(chǔ)上,篩選出適合的摩擦副材料,并提出了
2009-05-16 00:09:43531 片式電容的可靠性試驗(yàn)及失效的基本分析
片式電容的電性能測(cè)試之后,還有一項(xiàng)十分重要的工作就是片式電容的可靠性試驗(yàn)。如客戶無特
2009-02-10 12:57:351511
評(píng)論
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