大電流彈片微針模組比傳統(tǒng)pogo pin探針模組更具優(yōu)勢(shì)

手機(jī)的拍照功能是像素、處理器、性能結(jié)合在一起的綜合體驗(yàn)，對(duì)于手機(jī)攝像頭的應(yīng)用，出廠前的測(cè)試肯定少不了。因?yàn)槭謾C(jī)攝像頭測(cè)試的重要性，所以企業(yè)選擇測(cè)試模組的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)當(dāng)以測(cè)試的穩(wěn)定性為先，其次是追求測(cè)試效率和較高的性價(jià)比。凱智通大電流彈片微針模組對(duì)于手機(jī)攝像頭測(cè)試有著極佳的性能，能夠滿足測(cè)試要求。

大電流彈片微針模組與傳統(tǒng)pogo pin探針模組相比，從傳輸電流到小pitch可取值再到外形結(jié)構(gòu)、使用壽命等方面都占據(jù)著較大優(yōu)勢(shì)。

（一）電流傳輸

大電流彈片微針模組在大電流測(cè)試時(shí)穩(wěn)定可靠，可通過(guò)的額定電流能達(dá)到50A，電流傳導(dǎo)時(shí)在同一材料體內(nèi)流通，電阻恒定，具有極好地連接功能。Pogo pin探針模組可通過(guò)的額定電流僅為1A，在大電流測(cè)試時(shí)通常會(huì)加大探針的尺寸來(lái)增加電流，但這樣做很容易出現(xiàn)卡pin、斷針的現(xiàn)象，造成誤測(cè)。

（二）小pitch領(lǐng)域測(cè)試

在小pitch領(lǐng)域的測(cè)試中，大電流彈片微針模組有著很好地測(cè)試解決方案，應(yīng)對(duì)的pitch值范圍大，最小可以達(dá)到0.15mm，在0.15mm~0.4mm之間，性能都很穩(wěn)定。Pogo pin探針模組在小pitch領(lǐng)域中壽命和穩(wěn)定性都表現(xiàn)較差，應(yīng)對(duì)的pitch值通常只在0.3mm~0.4mm之間，可取值范圍小，無(wú)法應(yīng)對(duì)復(fù)雜的測(cè)試環(huán)境和要求。

（三）外形結(jié)構(gòu)對(duì)比

大電流彈片微針模組是一體成型的彈片結(jié)構(gòu)，多種頭型可以選擇，在對(duì)btb連接器公母座的測(cè)試中有獨(dú)特的應(yīng)對(duì)方法。接觸形狀可根據(jù)客戶的要求進(jìn)行定制，生產(chǎn)難度低，交期短。pogo pin探針模組是多配件組合結(jié)構(gòu)，由針頭、針管、針尾構(gòu)成，制作工藝復(fù)雜，表面鍍金厚度很難控制，生產(chǎn)難度高且交期長(zhǎng)。電流傳輸時(shí)會(huì)在不同的部位衰減，造成測(cè)試不穩(wěn)定。

（四）使用壽命

大電流彈片微針模組的使用壽命高達(dá)20w次以上，測(cè)試時(shí)不會(huì)對(duì)連接器造成損壞，不會(huì)留下扎痕，面對(duì)高頻率測(cè)試表現(xiàn)較好，無(wú)需頻繁更換，測(cè)試效率高。pogo pin探針模組的使用壽命在5w次左右，損壞率高，更換頻繁，無(wú)法應(yīng)對(duì)高頻率的測(cè)試，效率低下，測(cè)試不穩(wěn)定。

大電流彈片微針模組在手機(jī)攝像頭的測(cè)試中，性能穩(wěn)定、測(cè)試效率高、性價(jià)比高，各方面都遠(yuǎn)超pogo pin探針模組，是手機(jī)攝像頭測(cè)試的最佳選擇！

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