、襯底檢查、掃描電鏡檢查、PN結染?、DB FIB、熱點檢測、漏電位置檢測、彈坑檢測、粗細撿漏、ESD 測試（2）常?失效模式分析：靜電損傷、過電損傷、鍵合
2024-03-15 17:34:29
服務范圍LED芯片、LED支架、LED封裝膠、銀漿、鍵合線、LED燈珠（COB、LAMP、TOP、CHIP）、LED燈具、燈具驅動電源。檢測標準● GB/T15651-1995半導體器件分立器件
2024-03-15 09:23:03
基本介紹功率器件可靠性是器件廠商和應用方除性能參數(shù)外最為關注的，也是特性參數(shù)測試無法評估的，失效分析則是分析器件封裝缺陷、提升器件封裝水平和應用可靠性的基礎。廣電計量擁有業(yè)界領先的專家團隊及先進
2024-03-13 16:26:07
MOS管瞬態(tài)熱阻測試（DVDS）失效品分析如何判斷是封裝原因還是芯片原因，有什么好的建議和思路
2024-03-12 11:46:57
射線，表征材料元素方面的信息，可定性、半定量Be-U的元素 ；
定位測試點，如在失效分析中可以用來定位失效點，在異物分析中可以用來定位異物點。
博****仕檢測測試案例：
1.觀察材料的表面形貌
2024-03-01 18:59:58
LED的反向漏電流（Ir）偏移量超過ESD測試前測量值的10倍。這也是判斷LED是否受到靜電擊穿的一個指標。
2024-02-18 12:28:09
196 ; QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求檢測項目試驗類型試驗項??損分析X 射線透視、聲學掃描顯微鏡、?相顯微鏡電特性/電性定位分析電參數(shù)測試、IV&a
2024-01-29 22:40:29
什么是鋰離子電池失效？鋰離子電池失效如何有效分析檢測？ 鋰離子電池失效是指電池容量的顯著下降或功能完全喪失，導致電池無法提供持久且穩(wěn)定的電能輸出。鋰離子電池失效是由多種因素引起的，包括電池化學反應
2024-01-10 14:32:18216 我用的是ＡＤＰ2114 DCtoDC電源管理芯片，輸出設置為3.3V/3A和1.2V/1A，輸出頻率為600KHz,電路如圖：
現(xiàn)在遇到的問題是手碰到芯片后芯片會損壞，用萬用表測量SW1,SW2對VIN1短路，請教問各位大蝦出現(xiàn)這種故障的原因是因為靜電擊穿還是別的原因？
2024-01-08 07:46:53
ESD靜電放電有幾種主要的破壞機制 ESD失效的原因? 靜電放電(ESD)是由于靜電的積累導致電荷突然放電到不同電勢的物體上而引起的一系列現(xiàn)象。ESD可能對電子設備和電路產生不可逆的破壞，因此對于
2024-01-03 13:42:481269 是非常重要的。 靜電的危害： 1. 火災爆炸風險：靜電可以在某些情況下引發(fā)火災和爆炸。例如，在油氣行業(yè)中，靜電可以在攜帶易燃氣體或液體的設備和管道中產生火花，引起爆炸。 2. 電擊風險：當人體帶有靜電時，觸摸帶電物體可能
2024-01-03 13:42:38404 USB接口靜電防護器件選型要點 USB接口靜電防護器件是一種用于防止USB接口設備受到靜電擊穿和損壞的關鍵器件。在設計電子產品中, 對于USB接口的保護是非常重要的，因為不合適的保護可能導致設備損壞
2024-01-03 11:31:24635 ESD靜電屏蔽防護的方法及原理分析 ESD靜電放電是指兩個物體之間由于電荷不平衡而產生的電能放出。靜電放電會對電子器件和設備造成損害，從而影響它們的性能、可靠性和壽命。為了保護電子設備和器件免受靜電
2024-01-03 11:09:47322 ESD靜電保護器件的特點及選型? ESD靜電保護器件是一種用于防止靜電擊穿和靜電放電對電子產品的損害的器件。靜電釋放是一種突然的瞬態(tài)電流，可能會導致電子元件和芯片的永久損壞。因此，為了保護電子設備
2024-01-03 10:24:39222 崩擊穿和齊納擊穿是半導體器件中常見的兩種擊穿現(xiàn)象，它們在物理機制、電壓特性和應用方面有很大的區(qū)別。本文將對這兩種擊穿現(xiàn)象進行詳細的介紹和分析。 一、雪崩擊穿 物理機制 雪崩擊穿是指在高電場作用
2023-12-30 17:06:003163 
esd靜電二極管有方向嗎？ ESD靜電二極管是一種用于防止和保護電子設備被靜電擊穿和損壞的重要元件。它具有獨特的方向性和特性，能夠有效地將靜電放電到安全的地方。本文將詳細介紹ESD靜電二極管
2023-12-29 15:17:19269 在了解了DIPIPM失效分析的流程后是不是會很容易地找到市場失效的原因了呢？答案是否定的。不管是對收集到的市場失效信息還是對故障解析報告的解讀、分析都需要相應的專業(yè)技能作為背景，對整機進行的測試也需要相應的測試技能。
2023-12-27 15:41:37278 
點有可能發(fā)生了擊穿放電。 2. 氣體分析：通過對故障點附近空氣中的氣體成分進行分析，可以確定是否存在放電產生的氣體，如硫化氫，二氧化硫等。這些氣體的存在通常是擊穿放電的明顯證據(jù)。 3. 熱成像檢測：使用紅外熱成像儀可以檢測故障
2023-12-26 16:01:51160 DIPIPM是雙列直插型智能功率模塊的簡稱，由三菱電機于1997年正式推向市場，迄今已在家電、工業(yè)和汽車空調等領域獲得廣泛應用。本講座主要介紹DIPIPM的基礎、功能、應用和失效分析技巧，旨在幫助讀者全面了解并正確使用該產品。
2023-12-22 15:15:27241 
如何使用頻譜分析儀來觀察和分析雜散信號？ 頻譜分析儀是一種廣泛應用于電子領域的儀器，用于觀察和分析信號的頻譜特性。它可以幫助工程師們檢測和排除信號中的雜散信號，確保設備的正常工作和無干擾的信號傳輸
2023-12-21 15:37:16592 ESD靜電的危害與失效類型及模式？|深圳比創(chuàng)達電子
2023-12-21 10:19:12407 
防靜電電阻大好還是小好? 靜電指的是物體表面帶電現(xiàn)象，而靜電放電則是指當兩個帶電物體接觸時，電荷會從一個物體轉移到另一個物體上。這種現(xiàn)象在日常生活和工業(yè)生產中經(jīng)常出現(xiàn)，通常會引起電擊、火花等意外事故
2023-12-20 13:54:13856 ESD失效和EOS失效的區(qū)別 ESD（電靜電放電）失效和EOS（電壓過沖）失效是在電子設備和電路中經(jīng)常遇到的兩種失效問題。盡管它們都涉及電氣問題，但其具體產生的原因、影響、預防方法以及解決方法
2023-12-20 11:37:023069 ▼關注公眾號：工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個芯片產業(yè)鏈，復雜的產業(yè)鏈中任意一環(huán)出現(xiàn)問題都會帶來芯片的失效問題。芯片從工藝到應用都會面臨各種失效風險，筆者平時也會參與到失效分析中，這一期就對失效
2023-12-20 08:41:04530 
根據(jù)不同的誘因，常見的對半導體器件的靜態(tài)損壞可分為人體，機器設備和半導體器件這三種。
當靜電與設備導線的主體接觸時，設備由于放電而發(fā)生充電，設備接地，放電電流將立即流過電路，導致靜電擊穿。外部物體
2023-12-12 17:18:54
有一批現(xiàn)場儀表在某化工廠使用一年后，儀表紛紛出現(xiàn)故障。經(jīng)分析發(fā)現(xiàn)儀表中使用的厚膜貼片電阻阻值變大了，甚至變成開路了。把失效的電阻放到顯微鏡下觀察，可以發(fā)現(xiàn)電阻電極邊緣出現(xiàn)了黑色結晶物質，進一步分析
2023-12-12 15:18:171020 
1、案例背景 LED燈帶在使用一段時間后出現(xiàn)不良失效，初步判斷失效原因為銅腐蝕。據(jù)此情況，對失效樣品進行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測手段，明確失效原因。 2、分析過程 2.1 外觀
2023-12-11 10:09:07188 
這期我?guī)Т蠹依^續(xù)進行靜電放電問題典型案例分析，前篇文章分別介紹了復位信號、DC-DC芯片設計問題引發(fā)的靜電放電問題；這篇文章將介紹軟件設計、PCB環(huán)路設計引發(fā)的靜電放電問題；話不多說，還是通過兩個案例展現(xiàn)給大家。
2023-12-11 10:03:46489 減少靜電產生和降低擊穿風險的方法和材料 靜電是一種普遍存在的現(xiàn)象，對人類和設備都可能產生一定程度的威脅。為了減少靜電的產生，并降低由于靜電引起的擊穿風險，人們在不同領域積極進行研究和實踐。本文將詳細
2023-11-29 16:30:06274 DIPIPM是雙列直插型智能功率模塊的簡稱，由三菱電機于1997年正式推向市場，迄今已在家電、工業(yè)和汽車空調等領域獲得廣泛應用。本講座主要介紹DIPIPM的基礎、功能、應用和失效分析技巧，旨在幫助讀者全面了解并正確使用該產品。
2023-11-29 15:16:24414 
從這期開始我將帶大家進入靜電放電問題的典型案例分析，通過具體的實際案例以幫助大家消化前面的知識，并通過典型案例的分析為后面靜電放電設計做鋪墊。
2023-11-29 09:17:53347 
何謂PN結的擊穿特性？雪崩擊穿和齊納擊穿各有何特點？ PN結的擊穿特性是指當在PN結上施加的電壓超過一定的值時，PN結將發(fā)生擊穿現(xiàn)象，電流迅速增大，導致結電壓快速降低。擊穿是指在正向或反向電壓
2023-11-24 14:20:271216 什么是雪崩擊穿？單脈沖雪崩與重復雪崩有何不同？雪崩擊穿失效機理是什么？ 雪崩擊穿是指在電力系統(tǒng)中，由于過電壓等原因導致絕緣擊穿，進而引發(fā)設備失效的一種故障現(xiàn)象。在電力系統(tǒng)中，絕緣是保證設備正常運行
2023-11-24 14:15:36818 半導體器件擊穿機理分析及設計注意事項
2023-11-23 17:38:36474 
靜電放電與電路在一些環(huán)境下，靜電很容易積累并在放電的時候產生很大的電擊。我們做個實驗，穿著襪子在地毯上來回走動，然后去觸碰別人引起別人電擊驚嚇。被電擊后驚訝之余，我們并不太擔心，因為普通靜電不會
2023-11-23 10:06:40201 
損壞的器件不要丟，要做失效分析！
2023-11-23 09:04:42181 
壓接型IGBT器件與焊接式IGBT模塊封裝形式的差異最終導致兩種IGBT器件的失效形式和失效機理的不同，如表1所示。本文針對兩種不同封裝形式IGBT器件的主要失效形式和失效機理進行分析。1.焊接式IGBT模塊封裝材料的性能是決定模塊性能的基礎，尤其是封裝
2023-11-23 08:10:07721 
為滿足客戶分析需求的多樣性，季豐電子在張江實驗室配備了激光誘導擊穿光譜元素分析設備，采用355nm的YAG激光誘導被測材料產生光譜；
2023-11-21 10:15:47558 
FPC在后續(xù)組裝過程中，連接器發(fā)生脫落。在對同批次的樣品進行推力測試后，發(fā)現(xiàn)連接器推力有偏小的現(xiàn)象。據(jù)此進行失效分析，明確FPC連接器脫落原因。
2023-11-20 16:32:22312 
將詳細分析光耦失效的幾種常見原因。 首先，常見的光耦失效原因之一是LED失效。LED是光耦發(fā)光二極管的核心部件，它會發(fā)出光信號。常見的LED失效原因有兩種：老化和損壞。LED的使用壽命是有限的，長時間使用后會逐漸老化。老化后的LE
2023-11-20 15:13:441445 冬天在地墊上行走時，會感覺觸電感；在冬天接觸把手時也會感覺被電到；在穿衣服時聽到的噼啪聲等等。
這些生活中微不足道的靜電現(xiàn)象，卻對電子元件和電子線路板有著很大的影響，比如可能會產生靜電擊穿使元件損壞或
2023-11-17 14:28:26
在SMT加工過程中，靜電放電會對電子元器件造成損傷或失效，隨著IC集成度的提高和元器件的逐漸縮小，靜電的影響也變得愈加嚴重。據(jù)統(tǒng)計，導致電子產品失效的因素中，靜電占比8%~33%，而每年因為靜電
2023-11-17 08:07:49394 
在SMT加工過程中，靜電放電會對電子元器件造成損傷或失效，隨著IC集成度的提高和元器件的逐漸縮小，靜電的影響也變得愈加嚴重。 據(jù)統(tǒng)計，導致電子產品失效的因素中，靜電占比8%~33%，而每年因為靜電
2023-11-16 19:05:01250 
那么就要用到一些常用的失效分析技術。介于PCB的結構特點與失效的主要模式，其中金相切片分析是屬于破壞性的分析技術，一旦使用了這兩種技術，樣品就破壞了，且無法恢復；另外由于制樣的要求，可能掃描電鏡分析和X射線能譜分析有時也需要部分破壞樣品。
2023-11-16 17:33:05115 切片分析切片分析就是通過取樣、鑲嵌、切片、拋磨、腐蝕、觀察等一系列手段和步驟獲得 PCB 橫截面結構的過程。
2023-11-16 16:31:56156 在SMT加工過程中，靜電放電會對電子元器件造成損傷或失效，隨著IC集成度的提高和元器件的逐漸縮小，靜電的影響也變得愈加嚴重。 據(jù)統(tǒng)計，導致電子產品失效的因素中，靜電占比8%~33%，而每年因為靜電
2023-11-15 14:52:56865 
在SMT加工過程中，靜電放電會對電子元器件造成損傷或失效，隨著IC集成度的提高和元器件的逐漸縮小，靜電的影響也變得愈加嚴重。
2023-11-15 09:25:33740 
介紹LGA器件焊接失效分析及對策
2023-11-15 09:22:14349 
抵消電壓。
比如冬天在地墊上行走時，會感覺觸電感；在冬天接觸把手時也會感覺被電到；在穿衣服時聽到的噼啪聲等等。
這些生活中微不足道的靜電現(xiàn)象，卻對電子元件和電子線路板有著很大的影響，比如可能會產生靜電擊穿
2023-11-14 18:39:57
LED大屏幕核心元器件是由LED燈珠及IC驅動組成，由于LED對于靜電很敏感，靜電過大會導致發(fā)光二極管擊穿，因此安裝LED大屏幕過程中必須要做好接地措施，才能避免死燈的風險。
2023-11-09 11:05:59534 在電子產品的驗證測試中，靜電測試是非常重要的一項。 靜電放電可能會造成電子產品如手機，智能鎖等發(fā)生突然性失效或者潛在性失效，使得電子產品出現(xiàn)故障或性能下降，所以針對靜電測試是電子產品上市的一個重要
2023-11-06 17:07:071021 一、案例背景 車門控制板發(fā)生暗電流偏大異常的現(xiàn)象，有持續(xù)發(fā)生的情況，初步判斷發(fā)生原因為C3 MLCC電容開裂。據(jù)此情況，結合本次失效樣品，對失效件進行分析，明確失效原因。 二、分析過程 1、失效復現(xiàn)
2023-11-03 11:24:22279 
【電磁兼容技術案例分享】靜電放電（ESD）整改案例分析
2023-11-03 08:17:43765 
LED大屏幕核心元器件是由LED燈珠及IC驅動組成，由于LED對于靜電很敏感，靜電過大會導致發(fā)光二極管擊穿，因此安裝LED大屏幕過程中必須要做好接地措施，才能避免死燈的風險。
2023-11-01 09:34:01492 靜電放電過程中靜電干擾主要通過三種間接耦合方式干擾敏感源，即電場耦合、磁場耦合、地彈。前文已經(jīng)深入分析了靜電放電過程中的電場耦合，今天就談談靜電放電過程中的磁場耦合，也可以理解環(huán)路耦合。
2023-10-30 14:24:46875 
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《基于Matlab微帶線靜電場分析.pdf》資料免費下載
2023-10-25 11:10:46
0 本文涵蓋HIP失效分析、HIP解決對策及實戰(zhàn)案例。希望您在閱讀本文后有所收獲，歡迎在評論區(qū)發(fā)表您的想法。
2023-10-16 15:06:08299 
的，并且可以用于各種電路，包括放大器、濾波器、振蕩器、電源等。 雖然CBB電容器的使用范圍很廣，但是它們仍然容易受到電擊穿的影響。擊穿是指電壓高于電容器所能承受的電壓極限而導致的電流穿過電容器的現(xiàn)象。CBB電容的擊穿可能會導致電容器失效
2023-09-22 17:42:00620 為什么PN結的雪崩擊穿和齊納擊穿在溫度升高的情況下，擊穿電壓變化方向相反？? PN結是半導體器件中最基本的組成部件之一，廣泛應用于電力、電信、信息處理等領域。PN結的雪崩擊穿和齊納擊穿是PN結失效
2023-09-21 16:09:511811 在日常的電源設計中，半導體開關器件的雪崩能力、VDS電壓降額設計是工程師不得不面對的問題，本文旨在分析半導體器件擊穿原理、失效機制，以及在設計應用中注意事項。
2023-09-19 11:44:382588 晶閘管被擊穿有什么影響? 晶閘管是一種半導體器件，它在控制電路中起著非常關鍵的作用。然而，當晶閘管被擊穿時，它會受到損壞，從而影響整個電路的正常運行。因此，了解晶閘管被擊穿的影響非常重要。本文將對
2023-09-13 16:39:511378 靜電無處不在，區(qū)別在于靜電的多少而已。特別是工業(yè)生產過程中，大量的靜電會有很多危害。 靜電的危害有幾點：1.引起電子設備的故障或誤動作，造成電磁干擾。2.擊穿集成電路和精密的電子元件，或使元件老化
2023-09-13 09:25:53427 
失效分析是一門發(fā)展中的新興學科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及，它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。在提高產品質量，技術開發(fā)、改進，產品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。
2023-09-12 09:51:47291 
失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。
2023-09-06 10:28:051331 
數(shù)碼相機設計更加趨于多功能和智能化，對于其集成電路設計也有了嚴苛的要求。在數(shù)碼相機的研發(fā)過程中，電路的高集成、線細以及線間距短等特性，使得電子元件和電路板對靜電越來越敏感，因此需要在相機內部設計靜電防護電路，有效抑制靜電干擾，防止靜電放電擊穿帶來的危害，從而提高相機的可靠性和穩(wěn)定性。
2023-09-05 09:15:46421 
集成電路失效分析 隨著現(xiàn)代社會的快速發(fā)展，人們對集成電路（Integrated Circuit，簡稱IC）的需求越來越大，IC在各種電子設備中占據(jù)著至關重要的地位，如手機、電腦、汽車等都需要使用到
2023-08-29 16:35:13627 ，極易出現(xiàn)失效問題。因此，深入研究SBD失效機理，對于促進SBD的性能和壽命提高，具有重要的意義。 SBD失效機理可以從電學和物理兩個方面討論。首先，SBD失效機理包括電學性失效和物理性失效。 電學性失效： 1.反向擊穿失效 SBD在反向電場下受到電子滲出現(xiàn)象（即逆向電子穿透
2023-08-29 16:35:08971 芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術的發(fā)展，各種芯片被廣泛應用于各種工業(yè)生產和家庭電器中。然而，在使用過程中，芯片的失效是非常常見的問題。芯片失效分析是解決這個問題的關鍵。 芯片
2023-08-29 16:29:112800 半導體失效分析? 半導體失效分析——保障電子設備可靠性的重要一環(huán) 隨著電子科技的不斷發(fā)展，電子設備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分，而半導體也是電子設備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉化
2023-08-29 16:29:08736 鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 鉭電容是一種電子元器件，通常用于將電場儲存為電荷的裝置。它們具有高電容和低ESR等優(yōu)點，因此被廣泛應用于數(shù)字電路、模擬電路和電源等領域。然而
2023-08-25 14:27:562133 ：a、靜電注入金屬殼上時，金屬外殼與MOS管的散熱器之間存在拉弧放電，最初版本的MOS管耐壓性能差，易被靜電擊穿燒毀。b、電源插件小板也靠近MOS管散熱器，尤其是尺寸較大的電解電容器，更易將干擾引入此
2023-08-15 11:00:27
：a、靜電注入金屬殼上時，金屬外殼與MOS管的散熱器之間存在拉弧放電，最初版本的MOS管耐壓性能差，易被靜電擊穿燒毀。b、電源插件小板也靠近MOS管散熱器，尤其是尺寸較大的電解電容器，更易將干擾引入此
2023-08-15 10:57:02
本文通過對典型案例的介紹，分析了鍵合工藝不當，以及器件封裝因素對器件鍵合失效造成的影響。通過對鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析，以及對各種失效模式總結，闡述了鍵合工藝不當及封裝不良，造成鍵合本質失效的機理；并提出了控制有缺陷器件裝機使用的措施。
2023-07-26 11:23:15930 工業(yè)靜電監(jiān)控系統(tǒng)是一種用于監(jiān)測和控制工業(yè)生產過程中靜電現(xiàn)象的技術系統(tǒng)。靜電是指由于物體間的電荷不平衡而產生的電場現(xiàn)象，它在工業(yè)生產中可能導致電擊、火花、電磁干擾等質量問題。 工業(yè)靜電監(jiān)控系統(tǒng)主要通過
2023-07-25 09:40:11248 
隨著市場需求的不斷增加，近年從事LED制造和研發(fā)的人員大大增加。LED企業(yè)亦如雨后春筍般成長。由于從事LED驅動研發(fā)的企業(yè)和人眾多，其技術水平參 差不齊，研發(fā)出來的LED驅動電路質量好壞不一。導致LED燈具的失效時常發(fā)生，阻礙了LED照明的市場推廣。
2023-07-25 09:12:046864 
在組裝線上，工人正在組裝敏感的電子元器件到電路板上，當工人將帶有靜電電荷的手接觸到敏感的元器件或電路板時，靜電電荷會迅速放電，產生高能量的電流。這可能會損壞元器件的內部電子元件，導致元器件無法正常工作或完全失效。
2023-07-14 10:25:161599 感測型靜電消除器是一種能夠監(jiān)測和消除靜電的裝置。靜電是由于物體表面積聚了不平衡的電荷而產生的現(xiàn)象，常常會引發(fā)電擊、火花、物體吸附等問題。 感測型靜電消除器通常包含以下幾個主要部分： 1. 傳感器
2023-07-14 10:12:29399 
01 ? 反 向雪崩擊穿 一、背景介紹 根據(jù) ? Using LED as a Single Photon Detector [1] ?所介紹的紅色LED的單光子雪崩反向擊穿電流效應
2023-06-30 07:35:04442 
機理、氣候環(huán)境應力失效機理和輻射應力失效機理等幾大類。 1. 電應力失效機理 電應力失效包括封裝中的靜電放電，集成電路中存在n-p-n-p結構而形成正反饋（月鎖效應） 或鈍化層介質受潮/污染/損傷 （白道擊穿）等過電應力損傷導致
2023-06-26 14:15:31603 
BGA失效分析與改善對策
2023-06-26 10:47:41438 
為了防止在失效分析過程中丟失封裝失效證據(jù)或因不當順序引人新的人為的失效機理，封裝失效分析應按一定的流程進行。
2023-06-25 09:02:30315 
集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關的失效現(xiàn)象、形式（失效模式），查找封裝失效原因，確定失效的物理化學過程（失效機理），為集成電路封裝糾正設計、工藝改進等預防類似封裝失效的再發(fā)生，提升
2023-06-21 08:53:40572 生活中到處都是靜電，而電子元器件70%以上的失效都來源于靜電，所以我們不得不通過靜電測試來模擬生活中的靜電對電子產品的傷害
2023-06-08 10:26:29925 
生活中到處都是靜電，而電子元器件70%以上的失效都來源于靜電，所以我們不得不通過靜電測試來模擬生活中的靜電對電子產品的傷害，避免產品在使用過程中因為靜電而導致產品失效甚至危害人體安全。
2023-05-30 11:06:45475 
LED顯示屏產生靜電主要有兩種途徑：一種是通過人體或器材與地面產生的靜電放電，另一種是通過電磁波干擾形成的靜電。
2023-05-26 15:16:46723 
LED驅動電源作為LED照明中不可或缺的一部分，對其電子封裝技術要求亦愈發(fā)嚴苛，不僅需要具備優(yōu)異的耐候性能、機械力學性能、電氣絕緣性能和導熱性能，同時也需要兼顧灌封材料和元器件的粘接性。那么在LED驅動電源的使用中，導致LED驅動電源失效的原因都有哪些呢?下面就跟隨名錦坊小編一起來看看吧!
2023-05-18 11:21:19851 紅光LED芯片是單電極結構，它兩個電極之間的材質、厚度、襯底材料與雙電極的藍綠光LED不一樣，所承受的靜電能量要比雙電極的高很多。
2023-05-15 09:26:20423 
失效分析為設計工程師不斷改進或者修復芯片的設計，使之與設計規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。
2023-05-13 17:16:251365 。
通過對TVS篩選和使用短路失效樣品進行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征．結合器件結構、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時所受的應力等。采用理論分析和試驗證明等方法分析導致7rvS器件短路失效的原因。
2023-05-12 17:25:483678 
芯片對于電子設備來說非常的重要，進口芯片在設計、制造和使用的過程中難免會出現(xiàn)失效的情況。于是當下，生產對進口芯片的質量和可靠性的要求越來越嚴格。因此進口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來，那么進口芯片失效分析常用的方法有哪些呢？下面安瑪科技小編為大家介紹。
2023-05-10 17:46:31548 通常情況下短接會造成線路的損壞、二極管被擊穿、變壓器燒毀、引起火災觸電等危害。ESD靜電二極管作為用的最多的防護靜電器件，在操作過程中也時常將電路線中的零線、火線錯節(jié)，從而造成短接，出現(xiàn)二極管被擊穿
2023-05-10 10:26:281325 
失效分析（FA）是一門發(fā)展中的新興學科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。在提高產品質量，技術開發(fā)
2023-04-18 09:11:211360 
目前大多數(shù)的led顯示屏制造商尚不完全具備生產該類產品的真正能力，從而給LED顯示屏產品帶來了隱患，以至影響到整個市場，靜電就是其中之一。那么，LED顯示屏靜電產生的原因是什么？靜電給LED顯示屏生產帶來哪些危害？
2023-04-13 17:08:27527 
BGA失效分析與改善對策
2023-04-11 10:55:48577 程中出現(xiàn)了大量的失效問題。 對于這種失效問題，我們需要用到一些常用的失效分析技術，來使得PCB在制造的時候質量和可靠性水平得到一定的保證，本文總結了十大失效分析技術，供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22749 目前大概用了50000片芯片，其中1片芯片EN腳關不斷，綜合分析了各種可能發(fā)生的原因，懷疑是芯片靜電擊穿，只有1PCS，開蓋分析沒有明顯不良，要怎么證明是靜電擊穿啊
2023-03-29 15:07:01
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