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標(biāo)簽 > 測(cè)試流程
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F4-06-19 或者 F4-06-20 至少有一個(gè)設(shè)置為 ON,即開(kāi)門(mén)再平層或者提前開(kāi)門(mén)功能至少有一個(gè)是使能的。
ATE API:addParameter增加參數(shù)介紹
在編寫(xiě)測(cè)試程序TM時(shí),為了創(chuàng)建人機(jī)交互參數(shù),常常會(huì)使用到一項(xiàng)增加參數(shù)的API:addParameter,通過(guò)addParameter創(chuàng)建的參數(shù),通常可以...
芯片驗(yàn)證分析及測(cè)試流程優(yōu)化技術(shù)立即下載
類(lèi)別:測(cè)試測(cè)量 2011-06-29 標(biāo)簽:芯片驗(yàn)證測(cè)試流程 1314 0
真空探針臺(tái)主要進(jìn)行MEMS 器件晶圓級(jí)的射頻測(cè)試、特種氣體環(huán)境測(cè)試、壓力測(cè)試、光電性能測(cè)試、溫度測(cè)試、震動(dòng)測(cè)試、聲音測(cè)試及電參數(shù) 測(cè)試,這些測(cè)試類(lèi)型都基...
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