掃描電子顯微鏡（SEM）已廣泛用于材料表征、計(jì)量和過(guò)程控制的研究和先進(jìn)制造中，我們?cè)趯?duì)半導(dǎo)體材料和結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀測(cè)時(shí)，常常會(huì)遇到充電效應(yīng)，本文討論了與樣品充電相關(guān)的一些問(wèn)題以及減輕其影響的方法。
2023-12-29 15:57:12
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雙束FIB提供TEM制樣、FIB切割、Pt沉積和三維重構(gòu)聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合成為FIB-SEM雙束系統(tǒng)后，通過(guò)結(jié)合相應(yīng)的氣體沉積裝置，納米操縱儀，各種探測(cè)器及可控的樣品
2017-06-29 14:08:35
金鑒檢測(cè)雙束FIB提供TEM制樣、FIB切割、Pt沉積和三維重構(gòu)的服務(wù)發(fā)布時(shí)間：2017-04-26聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合成為FIB-SEM雙束系統(tǒng)后，通過(guò)結(jié)合相應(yīng)的氣體
2017-06-28 16:40:31
金鑒檢測(cè)雙束FIB提供TEM制樣、FIB切割、Pt沉積和三維重構(gòu)的服務(wù)發(fā)布時(shí)間：2017-04-26聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合成為FIB-SEM雙束系統(tǒng)后，通過(guò)結(jié)合相應(yīng)的氣體
2017-06-28 16:50:34
金鑒檢測(cè)雙束FIB提供TEM制樣、FIB切割、Pt沉積和三維重構(gòu)的服務(wù)聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合成為FIB-SEM雙束系統(tǒng)后，通過(guò)結(jié)合相應(yīng)的氣體沉積裝置，納米操縱儀，各種
2017-06-28 16:45:34
攝像目鏡放大率X數(shù)字放大率這公式對(duì)于任何一臺(tái)顯微鏡都合適，無(wú)論是金相顯微鏡，生物顯微鏡等等。北京芯片失效分析實(shí)驗(yàn)室介紹IC失效分析實(shí)驗(yàn)室北軟檢測(cè)智能產(chǎn)品檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室于2015年底實(shí)施運(yùn)營(yíng)，能夠依據(jù)國(guó)際
2020-02-06 13:09:57
`顯微鏡放大倍數(shù)是怎么得出來(lái)的很多實(shí)驗(yàn)室都在使用顯微鏡，但對(duì)顯微鏡的相關(guān)專(zhuān)業(yè)知識(shí)并不了解，只是知道怎么去操作，但對(duì)于一些基本常識(shí)可能都不怎么清楚，那么今天我們就來(lái)講講有關(guān)顯微鏡的放大倍率是如何計(jì)算
2020-04-26 14:57:38
物鏡是顯微鏡最重要的光學(xué)部件，利用光線使被檢物體第一次成象，因而直接關(guān)系和影響成象的質(zhì)量和各項(xiàng)光學(xué)技術(shù)參數(shù)，是衡量一臺(tái)顯微鏡質(zhì)量的首要標(biāo)準(zhǔn)。
2019-09-29 10:22:32
顯微鏡成像原理圖我知道目鏡的作用相當(dāng)于放大鏡,但放大鏡成的像是物相同側(cè)而顯微鏡當(dāng)中的物鏡將物體放大后,所成的像應(yīng)在顯微鏡管內(nèi).如果目鏡的原理和放大鏡一樣,那它的像豈不是朝人眼反方向放大(物相同側(cè)
2019-07-24 08:18:44
電子顯微鏡是將高能電子束幾乎平行樣品表面的角度入射，然后收集經(jīng)表面小角度反射出來(lái)的電子束來(lái)成像。這是反射式和穿透式電子顯微鏡最大的差別所在。另外由于反射式顯微術(shù)是應(yīng)用平行式的取像法，不像掃描是顯微術(shù)是用
2009-03-10 09:09:08
有沒(méi)有電子顯微鏡維護(hù)維修人員？
2012-09-17 16:31:38
最近搞了一個(gè)電子顯微鏡，渣渣。放大倍數(shù)為500倍，看不了什么細(xì)菌哈。但是還是可以看見(jiàn)一些人眼所不及的東西。我拿出來(lái)給大家分享下，你們說(shuō)想看什么東西的顯微效果，我這里只要有的話，我就盡量滿足。拍了之后
2016-06-02 13:35:52
生理測(cè)量熒光染料成像膜片鉗技術(shù)TIRFM全內(nèi)反射熒光顯微鏡電子顯微鏡（電鏡）：SEM:掃描電子顯微鏡TEM:透射電子顯微鏡STEM:掃描透射電子顯微鏡微電子/加工技術(shù)精密測(cè)量：分析天平熒光染料成像顯微
2018-09-02 16:35:11
在20世紀(jì)70年代起出現(xiàn)了國(guó)產(chǎn)的連續(xù)變倍體視顯微鏡，由于明顯優(yōu)于間隔變倍類(lèi)型的體視顯微鏡，從此在體視顯微鏡領(lǐng)域占據(jù)了主導(dǎo)地位。連續(xù)變倍體視顯微鏡有兩種基本形式：一是有一組主物鏡中間像平面平行于物鏡
2020-04-16 08:27:24
`1.設(shè)備型號(hào)TF20 場(chǎng)發(fā)射透射電鏡，配備能譜儀 2.原理透射電子顯微鏡（Transmission electron microscope，縮寫(xiě)TEM），簡(jiǎn)稱(chēng)透射電鏡，是把經(jīng)加速和聚集的電子束
2020-01-15 23:06:28
雙筒顯微鏡已成為過(guò)去！Aven Cyclops 單筒數(shù)字顯微鏡 (243-1349-ND) 具有 1080p HDMI 輸出，使技術(shù)人員可以在自己的監(jiān)視器上輕松地對(duì)標(biāo)志、焊點(diǎn)和 PCB 進(jìn)行光學(xué)檢查
2018-10-31 15:48:05
Beam FIB，能針對(duì)樣品中的微細(xì)結(jié)構(gòu)進(jìn)行奈米尺度的定位及觀察。離子束最大電流可達(dá)65nA，快速的切削速度能有效縮短取得數(shù)據(jù)的時(shí)間。應(yīng)用范圍：半導(dǎo)體組件失效分析(能力可達(dá)14nm高階制程)半導(dǎo)體生產(chǎn)線制程異常分析磊晶與薄膜結(jié)構(gòu)分析電位對(duì)比測(cè)試穿透式電子顯微鏡試片制作奈米級(jí)結(jié)構(gòu)制作
2018-09-04 16:33:22
、Cross-section截面分析4、Probing Pad for Test探針測(cè)試鍵生長(zhǎng)5、FIB透射電鏡樣品制備6、SEM（掃描式電子顯微鏡)
2013-12-18 17:00:22
掃描電子顯微鏡被廣泛用于納米技術(shù)、金屬、半導(dǎo)體、陶瓷、醫(yī)學(xué)和生物學(xué)等各種領(lǐng)域。此外，SEM的應(yīng)用范圍正在不斷擴(kuò)大，不僅涉及基礎(chǔ)研究，還涵蓋制造現(xiàn)場(chǎng)的質(zhì)量控制。因此，對(duì)更快、更輕松地獲取SEM圖像
2021-11-09 17:45:04
所制造的，因此，其所能提供的最佳分辨率，大約等于其使用光源的波長(zhǎng)（~1?m）。1940 掃描電子顯微鏡（SEM）為了改良傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡的不足，于1940 年左右發(fā)展出掃描電子顯微鏡（SEM），利用
2009-03-10 09:51:51
壓改建（C IVA ）·電壓襯度像（Voltage Contrast）·電子背散射衍射（EBSD ）·能量色散X射線能譜（ EDS ）·透射電子顯微鏡（ TEM ）& gC&
2015-05-28 16:06:54
時(shí)間，增加產(chǎn)品成品率。 我們將為研究人員提供，截面分析，二次電子像，以及透射電鏡樣品制備。我們同時(shí)還為聚焦離子束系統(tǒng)的應(yīng)用客戶提供維修，系統(tǒng)安裝，技術(shù)升級(jí)換代，系統(tǒng)耗材， 以及應(yīng)用開(kāi)發(fā)和培訓(xùn)。
2013-09-03 14:41:55
快速自動(dòng)化測(cè)量，并提供高度、寬度和角度等一系列輪廓尺寸參數(shù)對(duì)表面質(zhì)量進(jìn)行表征。
VT6000激光共聚焦顯微鏡依托弱光信號(hào)解析算法可以完整重建出近70°陡峭的復(fù)雜的結(jié)構(gòu)形狀。如：
1.對(duì)太陽(yáng)能電池片微觀
2023-08-22 15:19:49
們脫坑一個(gè)幫助，文筆不好，大家見(jiàn)諒！一：掃描電子顯微鏡由于透射電鏡是TE進(jìn)行成像的，這就要求樣品的厚度必須保證在電子束可穿透的尺寸范圍內(nèi)。為此需要通過(guò)各種較為繁瑣的樣品制備手段將大尺寸樣品轉(zhuǎn)變到透射電鏡可以接受的程度。能否直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像，成為科學(xué)家追求的...
2021-07-29 07:49:43
俄歇電子能譜儀 (Auger, AES)是一種利用電子束作為激發(fā)源的高靈敏度表面分析(Surface Analysis)技術(shù)，樣品偵測(cè)深度小于10nm。俄歇電子顯微鏡(Auger, AES)具有奈米
2018-09-27 14:38:01
樂(lè)意效勞。透射電子顯微鏡（TEM）可用于觀察樣品的微觀形貌、可進(jìn)行樣品的晶體結(jié)構(gòu)分析、可進(jìn)行納米尺度的微區(qū)或晶粒的成分分析，其廣泛應(yīng)用于材料、物理、化學(xué)、生物、電子等領(lǐng)域。公司專(zhuān)注于芯片、激光器件等
2022-03-15 12:08:50
～百萬(wàn)倍。因此，使用透射電子顯微鏡可以用于觀察樣品的精細(xì)結(jié)構(gòu)，甚至可以用于觀察僅僅一列原子的結(jié)構(gòu)，比光學(xué)顯微鏡所能夠觀察到的最小的結(jié)構(gòu)小數(shù)萬(wàn)倍FIB-TEM測(cè)試過(guò)程：采用對(duì)芯片選取合適位置做FIB剪薄
2024-01-02 17:08:51
原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope, AFM），主要原理是藉由針尖與試片間的原子作用力，使懸臂梁產(chǎn)生微細(xì)位移，以測(cè)得樣品表面形貌起伏。原子力顯微鏡(AFM)具有原子級(jí)解析
2018-11-13 09:48:43
先進(jìn)電子顯微鏡成像技術(shù)揭露垂直共振腔面射雷射的制程細(xì)節(jié)
2021-02-22 07:36:15
，有時(shí)即使在高倍鏡下也不能分辨電子顯微鏡檢測(cè)在可見(jiàn)波長(zhǎng)方面達(dá)到光學(xué)顯微鏡的極限。a.透射電鏡排查電學(xué)不穩(wěn)定因素：缺點(diǎn)：需對(duì)樣品進(jìn)行減薄處理，減薄處理易破壞器件，只能進(jìn)行晶體缺陷觀察。品牌：JEOL
2017-12-01 09:17:03
、Decap芯片開(kāi)封2、IC芯片電路修改3、Cross-section截面分析4、Probing Pad for Test探針測(cè)試鍵生長(zhǎng)5、FIB透射電鏡樣品制備6、SEM（掃描式電子顯微鏡)
2013-12-18 15:38:33
很多實(shí)驗(yàn)室都在使用顯微鏡，但對(duì)顯微鏡的相關(guān)專(zhuān)業(yè)知識(shí)并不了解，只是知道怎么去操作，但對(duì)于一些基本常識(shí)可能都不怎么清楚，那么今天我們就來(lái)講講有關(guān)顯微鏡的放大倍率是如何計(jì)算的？ 也許有人會(huì)說(shuō)這不是很簡(jiǎn)單
2020-02-11 09:57:12
是可以被看清的距離范圍。掃描電子顯微鏡的景深比透射電子顯微鏡大10倍，比光學(xué)顯微鏡大幾百倍。由于圖像景深大，所得掃描電子像富有立體感。電子束的景深取決于臨界分辨本領(lǐng)d0和電子束入射半角αc。其中，臨界
2019-07-26 16:54:28
、薄膜粗糙度及膜厚分析掃描電子顯微鏡樣品制備比透射電鏡樣品制備簡(jiǎn)單，不需要包埋和切片。樣品要求：樣品必須是固體；滿足無(wú)毒，無(wú)放射性，無(wú)污染，無(wú)磁，無(wú)水，成分穩(wěn)定要求。制備原則：表面受到污染的試樣，要在
2020-02-05 15:15:16
，微區(qū)形貌觀察2、各種材料形狀、大小、表面、斷面、粒徑分布分析3、各種薄膜樣品表面形貌觀察、薄膜粗糙度及膜厚分析掃描電子顯微鏡樣品制備比透射電鏡樣品制備簡(jiǎn)單，不需要包埋和切片。樣品要求：樣品必須是固體
2020-02-06 13:13:24
掃描電子顯微鏡的工作原理是什么？有什么優(yōu)點(diǎn)？
2021-10-28 06:39:54
掃描式電子顯微鏡 (SEM)掃描式電子顯微鏡，又掃描電鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）主要是利用微小聚焦的電子束(Electron Beam)進(jìn)行樣品表面掃描
2018-08-31 15:53:31
完全由計(jì)算機(jī)控制的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光學(xué)性能，清晰的數(shù)字化圖像,成熟、用戶界面友好的操作軟件等特點(diǎn)?；赪indows?平臺(tái)的操作軟件提供了簡(jiǎn)易的電鏡操作
2019-05-17 10:50:32
了掃描隧道顯微鏡，可以拍攝表面單個(gè)原子圖像，它速度至少比現(xiàn)有顯微鏡的速度快100倍。掃描隧道顯微鏡可以使用量子穿越隧道或電子通過(guò)隧道穿越障礙的能力，測(cè)量針型探測(cè)器和一個(gè)傳導(dǎo)表面之間的距離。 科研人員通過(guò)增加一
2013-06-19 17:22:54
攝像頭圖傳做維修用電子顯微鏡http://www.dt830.com/forum.php?mod=viewthread&tid=3909(出處: 儀表愛(ài)好者)`
2020-02-18 16:23:18
方便、直觀、檢定效率高,適用于電子工業(yè)生產(chǎn)線的檢驗(yàn)、印刷線路板的檢定、印刷電路組件中出現(xiàn)的焊接缺陷（印刷錯(cuò)位、塌邊等）的檢定、單板PC的檢定、真空熒光顯示屏VFD 的檢定等等，落射式檢測(cè)顯微鏡將實(shí)物
2009-07-07 09:36:14
砷化鎵銦微光顯微鏡(InGaAs)與微光顯微鏡(EMMI)其偵測(cè)原理相同，都是用來(lái)偵測(cè)故障點(diǎn)定位，尋找亮點(diǎn)、熱點(diǎn)(Hot Spot)的工具，其原理都是偵測(cè)電子-電洞結(jié)合與熱載子所激發(fā)出的光子。差別
2018-10-24 11:20:30
穿透式電子顯微鏡TEM穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron microscopy, TEM)主要是一種使用高能量電子束讓超薄的樣品成像，影像分辨率可達(dá)0.1奈米的原子等級(jí)
2018-08-21 10:23:10
、光學(xué)儀器配件等各種精密儀器。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于教育、醫(yī)療、機(jī)械 、電子、冶金、生物、農(nóng)業(yè)、軍工、大學(xué)、科研機(jī)構(gòu)、航空航天、模具、五金、汽車(chē)、半導(dǎo)體、太陽(yáng)能等各個(gè)專(zhuān)業(yè)領(lǐng)域。立體顯微鏡觀察物體時(shí)能產(chǎn)生正立
2009-07-07 09:35:25
，利用飛秒檢測(cè)技術(shù)，通過(guò)觀測(cè)分子、原子、電子、原子核等粒子飛秒級(jí)(一千萬(wàn)億分之一秒)的振動(dòng)、能級(jí)躍遷，開(kāi)展分析工作。 下面是飛秒測(cè)試中心的一款用于科研分析檢測(cè)工作的電子顯微鏡SEM+EDX 冷場(chǎng)發(fā)射
2017-12-06 09:45:42
` 設(shè)備型號(hào)：Zeiss Auriga Compact 聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合成為FIB-SEM雙束系統(tǒng)后，通過(guò)結(jié)合相應(yīng)的氣體沉積裝置，納米操縱儀，各種探測(cè)器及可控的樣品
2020-01-16 22:02:26
聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng) FIB-SEM應(yīng)用
聚焦離子束-掃描電鏡雙束系統(tǒng)主要用于表面二次電子形貌觀察、能譜面掃描、樣品截面觀察、微小樣品標(biāo)記以及TEM超薄片樣品的制備。
1.FIB切片
2023-09-05 11:58:27
離子束對(duì)材料進(jìn)行納米加工，配合掃描電鏡（SEM）等高倍數(shù)電子顯微鏡實(shí)時(shí)觀察，成為了納米級(jí)分析、制造的主要方法。目前已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體集成電路修改、切割和故障分析等。2.工作原理聚焦離子束(ed Ion
2020-02-05 15:13:29
電子顯微鏡(SEM)，利用聚焦離子束轟擊器件面表，面產(chǎn)生許多電子信號(hào)，將這些電子信號(hào)放大作為調(diào)制信號(hào)，連接顯示器，可得到器件表面圖像。透射電子顯微鏡(TEM)，分辨率可以達(dá)到0.1nm，透射電子顯微鏡可以
2020-05-18 14:25:44
熒光顯微鏡上海應(yīng)捷儀器有限公司是集光學(xué)儀器、儀器配件、及計(jì)算機(jī)圖像處理軟件和顯微鏡測(cè)量軟件等的研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售、服務(wù)為一體的企業(yè)。擁有光機(jī)電領(lǐng)域技術(shù)與產(chǎn)品的成套開(kāi)發(fā)的豐富經(jīng)驗(yàn)
2009-07-07 09:31:08
按細(xì)分的原理不同，讀數(shù)顯微鏡通常分為直讀式、標(biāo)線移動(dòng)式和影象移動(dòng)式3種。
2019-10-22 09:12:09
只能算是單純的顯微鏡詢價(jià)，而對(duì)顯微鏡的選購(gòu)知識(shí)卻是了解的不多，云飛公司技術(shù)人員依據(jù)多年的咨詢經(jīng)驗(yàn)為廣大顯微鏡求購(gòu)者總結(jié)一些選購(gòu)顯微鏡之前一些最常見(jiàn)的問(wèn)題，希望可以為您的選型提供幫助?！ ?wèn)題一、顯微鏡
2016-08-31 10:23:21
電子顯微原理與技術(shù)【教學(xué)內(nèi)容】1.透射和掃描電子顯微鏡的構(gòu)造與成像原理2.透射和掃描電鏡圖像的成像過(guò)程3.透射和掃描電鏡主要性能4.表面復(fù)型技術(shù)5.透射和掃
2009-03-06 11:44:18
0 由NiCl2、NaBH4等組成的微乳液體系發(fā)生氧化還原反應(yīng)制備NiO納米棒前驅(qū)物，在熔融鹽環(huán)境中860℃焙燒2.5h前驅(qū)體發(fā)生氧化反應(yīng)，成功地制備了NiO納米棒，用透射電子顯微鏡、X射線衍
2009-04-26 22:37:1330 VT6000系列高清工業(yè)電子顯微鏡是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它是以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D
2023-02-03 11:13:55
本文以物鏡磁透鏡穩(wěn)流電源為例，介紹了透射電子顯微鏡透鏡穩(wěn)流電源的結(jié)構(gòu)和工作原理。透鏡穩(wěn)流電源由前置高精度穩(wěn)壓電源模塊、數(shù)模轉(zhuǎn)換器、低漂移電壓比較放大器、高精度
2010-02-23 11:38:3821 采用自行研制的高真空三槍直流電弧金屬納米粉體連續(xù)制備設(shè)備，通過(guò)控制充氣壓力制備不同粒徑的納米鉍粉。利用X 射線衍射(XRD)、透射電子顯微鏡(TEM)和相應(yīng)的選區(qū)電子衍射(SAE
2010-08-12 17:24:280 透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與成像原理透射電子顯微鏡是以波長(zhǎng)極短的電子束作為照明源，用電磁透鏡聚焦成像的一種高分辨率、高放大倍數(shù)的電子光學(xué)儀器。
2009-03-06 22:20:1211737 
掃描電子顯微鏡原理和應(yīng)用2.4.1 掃描電鏡的特點(diǎn)與光學(xué)顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點(diǎn)： (一) 能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)，樣品的尺寸可大
2009-03-06 22:23:305129 電子顯微術(shù)(Electron Microscopy,EM)
電子顯微術(shù)可分為靜態(tài)式和掃描式。靜態(tài)式包括穿透式、反射式電鏡及低能電子顯微鏡等。掃描式包
2009-03-10 09:02:582506 20世紀(jì)80年代中期,在數(shù)字化電子顯微鏡商品化之前,模擬式電鏡發(fā)展到了相當(dāng)高的水平,很多操作被先轉(zhuǎn)換成指令,通過(guò)接口電路與單板機(jī)的識(shí)別處理后,發(fā)出控制指令,由各種功能電路來(lái)實(shí)現(xiàn)
2011-04-09 11:21:5464 愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試 （Advantest） 宣布已開(kāi)發(fā)出全新光罩缺陷檢驗(yàn)掃描式電子顯微鏡系統(tǒng)E5610，不僅可檢測(cè)光罩基材中超細(xì)微缺陷，還能加以分類(lèi)。 E5610承襲Advantest一貫的高穩(wěn)定性、全自動(dòng)影像擷
2012-11-26 09:22:231386 透射電子顯微鏡（英語(yǔ)：Transmission electron microscope，縮寫(xiě)TEM），簡(jiǎn)稱(chēng)透射電鏡，是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向
2017-12-12 15:04:04128876 /神經(jīng)系統(tǒng)科學(xué)：??電子生理測(cè)量??熒光染料成像??膜片鉗技術(shù)??TIRFM全內(nèi)反射熒光顯微鏡電子顯微鏡（電鏡）：??SEM:掃描電子顯微鏡??TEM:透射電子顯微鏡??STEM:掃描透射電子顯微鏡
2018-08-28 11:29:504929 本書(shū)系統(tǒng)地介紹了透射電子顯微鏡圖像襯度的形成原理和實(shí)驗(yàn)分析枝術(shù)。第一章簡(jiǎn)要論述電子衍射原理和行射譜的分析方法。第二、三章敘述成象的運(yùn)動(dòng)學(xué)和動(dòng)力學(xué)理論。以后各章詳細(xì)介紹從電鏡照片來(lái)分析各種微觀組織的方法。
2019-03-11 08:00:000 半導(dǎo)體逆向工程和IP服務(wù)公司ICmasters已使用透射電子顯微鏡（TEM）對(duì)Apple的A14仿生芯片系統(tǒng)（SoC）進(jìn)行了初步檢查。SemiAnalysis撰寫(xiě)的一份有見(jiàn)地的報(bào)告揭示了蘋(píng)果這顆
2020-11-04 14:33:114375 透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope，簡(jiǎn)稱(chēng)TEM），可以看到在光學(xué)顯微鏡下無(wú)法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱(chēng)為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。要想
2020-12-03 15:37:2536846 主要體現(xiàn)在樣品在電子束光路中的位置不同。透射電鏡的樣品在電子束中間，電子源在樣品上方發(fā)射電子，經(jīng)過(guò)聚光鏡，然后穿透樣品后，有后續(xù)的電磁透鏡繼續(xù)放大電子光束，最后投影在熒光屏幕上;掃描電鏡的樣品
2020-12-03 15:52:2934706 透射電子顯微鏡中主要有三種光闌：光闌。在雙系統(tǒng)中，該光闌裝在第二下方。作用：限制照明孔徑角。
2020-12-04 13:39:1011558 新一代儀器提升數(shù)據(jù)可靠性，控制圖像畸變≤1% 2021年3月17日，上?！茖W(xué)服務(wù)領(lǐng)域的世界領(lǐng)導(dǎo)者賽默飛世爾科技（以下簡(jiǎn)稱(chēng)：賽默飛）宣布推出Talos F200E掃描透射電子顯微鏡（以下簡(jiǎn)稱(chēng)
2021-03-18 10:35:093056 電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供透射電子顯微鏡成像原理資料下載的電子資料下載，更有其他相關(guān)的電路圖、源代碼、課件教程、中文資料、英文資料、參考設(shè)計(jì)、用戶指南、解決方案等資料，希望可以幫助到廣大的電子工程師們。
2021-03-31 08:48:5323 TEM（Transmission Electron Microscope， 透射電子顯微鏡） 具有較高的分辨率是半導(dǎo)體失效分析領(lǐng)域最常用的儀器之一，其以高能電子束作為光源，用電磁場(chǎng)作透鏡，將經(jīng)過(guò)加速
2021-06-21 09:42:417788 隨著材料科技的發(fā)展，需要更細(xì)致地觀察研究材料的微觀物理化學(xué)結(jié)構(gòu)特征，透射電子顯微分析（TEM）作為一種具有超高分辨率、超高放大倍數(shù)的顯微分析方法，是觀察分析材料的形貌、組織和結(jié)構(gòu)的有效工具
2021-08-06 14:57:341325 隨著材料科技的發(fā)展，需要更細(xì)致地觀察研究材料的微觀物理化學(xué)結(jié)構(gòu)特征，透射電子顯微分析（TEM）作為一種具有超高分辨率、超高放大倍數(shù)的顯微分析方法，是觀察分析材料的形貌、組織和結(jié)構(gòu)的有效工具
2021-11-26 17:46:001206 TEM（Transmission Electron Microscope， 透射電子顯微鏡） 具有較高的分辨率是半導(dǎo)體失效分析領(lǐng)域最常用的儀器之一，其以高能電子束作為光源，用電磁場(chǎng)作透鏡，將經(jīng)過(guò)加速
2021-09-18 10:49:167641 隨著材料科技的發(fā)展，需要更細(xì)致地觀察研究材料的微觀物理化學(xué)結(jié)構(gòu)特征，透射電子顯微分析（TEM）作為一種具有超高分辨率、超高放大倍數(shù)的顯微分析方法，是觀察分析材料的形貌、組織和結(jié)構(gòu)的有效工具
2022-04-01 22:06:564894 透射電子顯微鏡(簡(jiǎn)稱(chēng)透射電鏡)以被高壓加速后的高能電子束為入射光源，利用電子束與物質(zhì)的相互作用，對(duì)物質(zhì)的微結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像與分析的一種儀器。
2022-07-27 15:47:1312494 No.1 引言 ? 掃描電子顯微鏡的簡(jiǎn)稱(chēng)為掃描電鏡，英文縮寫(xiě)為SEM 。它利用細(xì)聚焦的電子束，轟擊樣品表面，通過(guò)電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等，對(duì)樣品表面或斷口形貌進(jìn)行觀察和分析
2022-08-18 08:50:392732 掃描電子顯微鏡（SEM Scanning Electron Microscope）是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段，在光電技術(shù)中起到重要作用。
2022-08-22 11:49:273078 為了支持半導(dǎo)體制造商的自動(dòng)化需求，先進(jìn)的電子顯微鏡正在集成人工智能功能，以提供更快的數(shù)據(jù)生成時(shí)間并提高人力和工具資源的生產(chǎn)效率。
2023-05-05 17:17:25500 透射電子顯微鏡TEM 透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡(jiǎn)稱(chēng)TEM)，可以看到在光學(xué)顯微鏡下無(wú)法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱(chēng)為亞顯微
2023-05-31 09:20:40783 
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡。先進(jìn)的鏡筒設(shè)計(jì)，高壓隧道技術(shù)（SuperTunnel）、低像差無(wú)漏磁物鏡設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了低電壓高分辨率成像，同時(shí)
2023-04-12 11:38:30573 
蔡司熱場(chǎng)掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠?qū)Ω鞣N材質(zhì)的導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實(shí)現(xiàn)樣品表面微觀區(qū)域內(nèi)的成分和織構(gòu)分析
2023-07-26 10:48:06650 
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）是一種用于觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的高分辨率顯微鏡。它利用電子束穿透樣品并形成投影圖像，然后通過(guò)對(duì)該圖像進(jìn)行解釋
2023-08-01 10:02:152349 蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對(duì)于材料科學(xué)、電子、地質(zhì)、物理、化工、農(nóng)醫(yī)、公安、食品和輕工等領(lǐng)域的科學(xué)研究，人們總是關(guān)心微觀形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成與宏觀物理或化學(xué)性質(zhì)之間的關(guān)系。光學(xué)顯微系統(tǒng)
2023-08-08 15:50:351420 散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏，膠片以及感光耦合組件）上顯示出來(lái)的顯微鏡。 透射電鏡TEM原理 博仕檢測(cè)工程師對(duì)客戶指定樣品區(qū)域內(nèi)定點(diǎn)制備高質(zhì)量的透射電子顯微鏡(TEM) 樣品 聚焦離子束FI
2023-08-29 14:54:151373 
如今，不僅有能放大幾千倍的光學(xué)顯微鏡，也有能放大幾十萬(wàn)倍的電子顯微鏡，讓我們對(duì)生物體的生命活動(dòng)規(guī)律有了更深入的了解。普通中學(xué)生物教學(xué)大綱中規(guī)定的實(shí)驗(yàn)絕大部分都是利用顯微鏡來(lái)完成的，因此顯微鏡的性能是觀察好實(shí)驗(yàn)的關(guān)鍵。
2023-11-07 15:23:26798 掃描電子顯微鏡是一種全自動(dòng)的、非破壞性的顯微分析系統(tǒng)，可針對(duì)無(wú)機(jī)材料和部分有機(jī)材料，迅速提供在統(tǒng)計(jì)學(xué)上可靠且可重復(fù)的礦物學(xué)、巖相學(xué)和冶金學(xué)數(shù)據(jù)，在采礦業(yè)，可用于礦產(chǎn)勘查、礦石表征和選礦工藝優(yōu)化
2023-11-21 13:02:19465 掃描電子顯微鏡是一種全自動(dòng)的、非破壞性的顯微分析系統(tǒng)，可針對(duì)無(wú)機(jī)材料和部分有機(jī)材料，迅速提供在統(tǒng)計(jì)學(xué)上可靠且可重復(fù)的礦物學(xué)、巖相學(xué)和冶金學(xué)數(shù)據(jù)，在采礦業(yè)，可用于礦產(chǎn)勘查、礦石表征和選礦工藝優(yōu)化
2023-11-21 13:16:41235 
本文介紹了一種飛米級(jí)電子顯微鏡的原理，未來(lái)這種技術(shù)有望用于探測(cè)遠(yuǎn)離穩(wěn)定谷的核。
2023-12-13 15:59:12227 
中國(guó)近年來(lái)向著科技自立自強(qiáng)的方向邁出了堅(jiān)定的步伐，核心技術(shù)不斷突破，高端儀器設(shè)備持續(xù)涌現(xiàn)。近日消息，由蘇州博眾儀器科技有限公司（簡(jiǎn)稱(chēng)博眾儀器）自主研發(fā)的200kV透射電子顯微鏡BZ-F200已經(jīng)進(jìn)入
2023-12-28 11:24:09766 
數(shù)字顯微鏡Smartzoom5和SEM掃描電子顯微鏡的解決方案。圖a、b顯示的是無(wú)涂層的鉆頭的切削刃口情況，圖c、d顯示的是金剛石涂層鉆頭的脫落情況；圖a、c使用
2024-01-08 15:12:5299 
由于電子在空氣中行進(jìn)的速度很慢，所以必須由真空系統(tǒng)保持電鏡的真空度，否則，空氣中的分子會(huì)阻撓電子束的發(fā)射而不能成像。用兩種類(lèi)型的真空泵串連起來(lái)獲得電子顯微鏡鏡筒中的真空，當(dāng)電子顯微鏡啟動(dòng)時(shí)，第一
2024-01-09 11:18:33165 1月20日，廣州慧炬科技有限公司成功舉辦“承鴻鵠之志，造大國(guó)電鏡”新品發(fā)布會(huì)，正式發(fā)布首臺(tái)國(guó)產(chǎn)商業(yè)場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡“太行”TH-F120。標(biāo)志著我國(guó)已掌握透射電鏡整機(jī)研制能力以及電子槍、高壓電源
2024-01-26 08:26:00280 X射線衍射儀或電子能譜儀相結(jié)合，構(gòu)成電子微探針，用于物質(zhì)成分剖析;發(fā)射式電子顯微鏡用于自發(fā)射電子外表的研討。因電子束穿透樣品后，再用掃描電鏡成像縮小而得名，它的光路與光學(xué)顯微鏡相仿，可以直接取得一個(gè)樣本的投影。
2024-02-01 18:22:15609
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