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芯茂(嘉興)半導(dǎo)體科技有限公司

芯茂(嘉興)半導(dǎo)體科技有限公司是一家專注于半導(dǎo)體裝備本土化制造的高科技公司。

21 內(nèi)容數(shù) 1.4w 瀏覽量 12 粉絲

晶圓表面缺陷檢測(cè)儀

型號(hào): YIS200;YIS300

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 検査內(nèi)容 平坦度、DIMPLES 、Mound、Sawmark、Ori
  • 使用光源 550nmFiltering
  • 検査區(qū)域 φ200mm以下~φ450mm
  • 検査倍率 3倍模式切換
  • 検査時(shí)間 瞬時(shí)影像輸出
  • 外形寸法 600(W)X1008(D)X1630(H)mm
  • 電 源 AC 100V 50/60Hz MAX.3A

--- 數(shù)據(jù)手冊(cè) ---

--- 產(chǎn)品詳情 ---

           表面欠陥検査裝置「魔鏡」

       本設(shè)備應(yīng)用魔鏡的原理,高靈敏度地檢查鏡面樣品的表面狀態(tài)??梢愿哽`敏度地檢測(cè)樣品表面上的不均勻性,翹曲,拋光不均勻性等,檢測(cè)結(jié)果在監(jiān)視器上用亮度(白)和暗度(黑)表示。檢查可以在非接觸和非破壞性的情況下進(jìn)行,并且可以立即確認(rèn)樣品的表面狀態(tài)。這是一款使用免維護(hù)光學(xué)系統(tǒng),可操作性優(yōu)異的設(shè)備。

     原理: 基于事前所設(shè)定的缺陷判斷的閾値,使所取得的圖像,缺陷種類的判別,缺陷部位的可視化,位置坐標(biāo)算出,缺陷尺寸表示等進(jìn)行自動(dòng)解析,可在界面針對(duì)數(shù)據(jù),對(duì)缺陷進(jìn)行逐一觀測(cè)。

特長(zhǎng)                                                                                用途
1.所有的表面狀態(tài)都是即時(shí)的。                                  ○鏡面晶圓的表面檢查
2.我們的光學(xué)系統(tǒng)對(duì)應(yīng)是1級(jí)的。                                ○滑移線的檢查
3.光學(xué)系統(tǒng)是免維護(hù)的。                                            ○玻璃基板的檢測(cè)
4.根據(jù)檢查內(nèi)容,檢測(cè)靈敏度/檢測(cè)放大率                   ○其他鏡面基板的檢測(cè)
                                                                                     ○Film等的基板以外的檢查
5.根據(jù)每個(gè)樣品和檢查位置定制最佳光學(xué)系統(tǒng)。

 

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