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      標(biāo)簽　>　測(cè)試座

      測(cè)試座

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      測(cè)試座技術(shù)

      淺談IC測(cè)試座及探針作用

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      測(cè)試插座的主要起著一個(gè)連接導(dǎo)通的作用，用于集成電路應(yīng)用功能驗(yàn)證。它是PCB與IC之間的靜態(tài)連接器，可以讓芯片的更換測(cè)試更方便，不用一直重復(fù)焊接和取下芯片...

      2023-07-11 標(biāo)簽：芯片集成電路連接器 865 0

      使用老化測(cè)試座有哪些優(yōu)勢(shì)?

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      老化測(cè)試座是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行測(cè)試的設(shè)備，具有以下幾個(gè)優(yōu)勢(shì)：

      2023-07-01 標(biāo)簽：芯片測(cè)試測(cè)試座 843 0

      SD NAND測(cè)試套件：提升存儲(chǔ)芯片驗(yàn)證效率

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      SD NAND轉(zhuǎn)接板和燒錄座是一種專為工程師設(shè)計(jì)的輔助工具，它能夠?qū)⒉煌叽绲腟D NAND芯片轉(zhuǎn)換為通用TF接口封裝，從而方便地進(jìn)行性能測(cè)試和驗(yàn)證。這...

      2024-08-13 標(biāo)簽：存儲(chǔ)芯片測(cè)試座轉(zhuǎn)接板 280 0

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      測(cè)試座資訊

      凱智通基于FLASH芯片的TSOP48測(cè)試座

      該公司最新推出基于FLASH芯片的TSOP48測(cè)試座，采用了國(guó)際通行的OPEN TOP的方式方便機(jī)械自動(dòng)化燒錄和測(cè)試芯片，這款插座最顯著的特點(diǎn)是與芯片引...

      2011-03-02 標(biāo)簽：FLASH凱智通TSOP48 2794 0

      SD NAND、SPI NAND和Raw NAND的比較

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      SDNAND、SPINAND和RawNANDSDNANDSPINANDRawNAND接口SD/SPISPI并口ecc有有部分有壞塊管理有————磨損平均...

      2023-08-28 標(biāo)簽：NANDSD測(cè)試座 1520 0

      Q-Tip Mercury測(cè)試座在全三溫范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)最佳初檢合格率

      日前，Multitest公司宣布其配置Q-tip的Mercury測(cè)試座在一家美國(guó)整合元件制造商處成功通過(guò)為期兩個(gè)月的評(píng)估—在東南亞進(jìn)行的測(cè)試作業(yè)中，超過(guò)...

      2012-11-06 標(biāo)簽：測(cè)試座Multitest半導(dǎo)體測(cè)試 1376 0

      芯片測(cè)試座的結(jié)構(gòu)及工作原理

      芯片測(cè)試座是一種電子元器件，它是用來(lái)測(cè)試集成電路芯片的設(shè)備，它可以用來(lái)測(cè)試和檢查電路芯片的性能，以確保其達(dá)到規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)。

      2023-06-15 標(biāo)簽：芯片測(cè)試引腳測(cè)試座 1304 0

      EMMP162/186編程座、測(cè)試座的測(cè)試方法以及特點(diǎn)

      KZT EMMP162/186編程座、測(cè)試座，對(duì)EMCP162/186的IC芯片進(jìn)行測(cè)試、讀寫。 測(cè)試方法： 選擇和IC匹配的限位框，把IC按方向平放入...

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      三合一翻蓋彈片轉(zhuǎn)USB測(cè)試座的特點(diǎn)以及它的性能優(yōu)勢(shì)

      KZT EMMC153 EMCP162 221三合一測(cè)試座，可對(duì)未寫保護(hù)的IC進(jìn)行清空（格式化），測(cè)試IC好壞，大小容量，讀取拷貝， 如客戶手機(jī)損壞，字...

      2020-07-21 標(biāo)簽：芯片測(cè)試座 1066 0

      IC芯片測(cè)試座三個(gè)核心組成部分及特點(diǎn)

      IC芯片測(cè)試座三個(gè)核心組成部分及特點(diǎn)

      IC芯片測(cè)試座是用于測(cè)試集成電路(IC)芯片的專用工具。它由三個(gè)核心組成部分構(gòu)成。

      2023-06-05 標(biāo)簽：集成電路IC芯片測(cè)試座 971 0

      芯片測(cè)試座在IC芯片測(cè)試中的作用

      在IC芯片測(cè)試中，芯片測(cè)試座起著至關(guān)重要的作用。它是連接芯片和測(cè)試設(shè)備的關(guān)鍵橋梁，為芯片提供測(cè)試所需的電流和信號(hào)。

      2023-07-25 標(biāo)簽：芯片測(cè)試座 958 0

      一文帶你了解IC測(cè)試座的用途

      IC測(cè)試座是一種常用于集成電路測(cè)試的工具，它可以通過(guò)將芯片插入座子中進(jìn)行信號(hào)傳輸、功能測(cè)試、參數(shù)測(cè)試等多項(xiàng)檢測(cè)。IC測(cè)試座的主要用途包括以下幾個(gè)方面：

      2023-06-02 標(biāo)簽：芯片IC測(cè)試座 944 0

      芯片測(cè)試座的定義

      芯片測(cè)試座的定義

      芯片測(cè)試座（Chip Test Socket）是一種用于測(cè)試集成電路芯片（IC）的裝置。它通常由一個(gè)金屬底盤和一個(gè)或多個(gè)針腳組成，針腳與IC的引腳相連，...

      2023-08-14 標(biāo)簽：芯片IC測(cè)試座 941 0

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      測(cè)試座數(shù)據(jù)手冊(cè)

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        從背景上看，28nm誕生于2008年那場(chǎng)金融危機(jī)之后。受到金融海嘯的影響，當(dāng)時(shí)很多半導(dǎo)體企業(yè)都受到了影響。于是，在這之后的幾年，包括AMD在內(nèi)的很多半導(dǎo)體企都選擇將制造業(yè)務(wù)剝離以降低運(yùn)營(yíng)資金壓力，將更多的資源集中到相對(duì)投入到芯片設(shè)計(jì)當(dāng)中
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        Mobileye
        +關(guān)注
        Mobileye在單目視覺高級(jí)駕駛輔助系統(tǒng) （ADAS） 的開發(fā)方面走在世界前列，提供芯片搭載系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)視覺算法運(yùn)行 DAS 客戶端功能，例如車道偏離警告 （LDW）、基于雷達(dá)視覺融合的車輛探測(cè)、前部碰撞警告 （FCW）、車距監(jiān)測(cè) （HMW）、行人探測(cè)、智能前燈控制 （IHC）、交通標(biāo)志識(shí)別 （TSR）、僅視覺自適應(yīng)巡航控制 （ACC） 等。
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