澤豐半導(dǎo)體的名字早已耳熟能詳，作為中國(guó)大陸頂尖的高端半導(dǎo)體綜合測(cè)試解決方案和陶瓷封裝方案供應(yīng)商，澤豐將在兩場(chǎng)盛會(huì)上展示三大類別產(chǎn)品及其配套解決方案，充分體現(xiàn)公司精湛的自主材料研發(fā)實(shí)力、嚴(yán)謹(jǐn)成熟的制造流程以及卓越的工廠生產(chǎn)力。
2024-03-15 09:47:43
97 臺(tái)積電的 Suk Lee 發(fā)表了題為“摩爾定律和半導(dǎo)體行業(yè)的第四個(gè)時(shí)代”的主題演講。Suk Lee表示，任何試圖從半導(dǎo)體行業(yè)傳奇而動(dòng)蕩的歷史中發(fā)掘出一些意義的事情都會(huì)引起我的注意。正如臺(tái)積電所解釋
2024-03-13 16:52:37
近日，廣立微電子宣布推出全新T4000 Max半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試機(jī)，該測(cè)試機(jī)配置100pin，并支持多通道并行測(cè)試，專為那些需要執(zhí)行多項(xiàng)測(cè)試任務(wù)并追求高效率的客戶而設(shè)計(jì)。這一新產(chǎn)品的推出不僅豐富
2024-03-13 09:23:14270 想問一下，半導(dǎo)體設(shè)備需要用到溫度傳感器的有那些設(shè)備，比如探針臺(tái)有沒有用到，具體要求是那些，
2024-03-08 17:04:59
近日某院校送修一臺(tái)吉時(shí)利靜電計(jì)6517B，客戶反饋上測(cè)試電阻不準(zhǔn)，對(duì)儀器進(jìn)行初步檢測(cè)，確定與客戶描述故障一致。本期將為大家分享本維修案例。
2024-02-27 11:37:21168 
Vishay近日宣布推出升級(jí)版的TSOP18xx、TSOP58xx和TSSP5xx系列紅外(IR)接收器模塊，這些模塊經(jīng)過優(yōu)化，適用于遙控、接近探測(cè)和光幕應(yīng)用。
2024-02-01 14:06:54178 日前，Vishay 推出適合遙控、接近探測(cè)和光幕應(yīng)用的升級(jí)版 TSOP18xx、TSOP58xx 和 TSSP5xx 系列紅外 ( IR ) 接收器模塊。增強(qiáng)型解決方案采用 Minicast 封裝
2024-01-19 16:41:23532 吉時(shí)利Keithley 6517B 高阻計(jì)/靜電計(jì)是一個(gè)新版本，取代了較早型號(hào)6517A(1996年推出)。Model 6517A的應(yīng)用軟件使用SCPI語(yǔ)言命令可以在Model 6517B上不做任何
2024-01-04 10:05:40
24?20keithley/吉時(shí)利 2420 高壓源表描述吉時(shí)利SourceMeter（數(shù)字源表）keithley/吉時(shí)利 2420系列是專為要求緊密結(jié)合激勵(lì)源和測(cè)量功能，要求精密電壓源并同時(shí)進(jìn)行
2023-12-25 17:26:47
“時(shí)間就是金錢”這句話在半導(dǎo)體器件的生產(chǎn)測(cè)試中尤為貼切。
2023-12-25 17:21:03285 
成都某半導(dǎo)體芯片公司是一家專注于開發(fā)設(shè)計(jì)半導(dǎo)體電源芯片的高新技術(shù)企業(yè)，目前企業(yè)對(duì)于電源管理芯片研發(fā)階段的測(cè)試，絕大部分采用人工手動(dòng)測(cè)試，效率低，耗時(shí)長(zhǎng)，數(shù)據(jù)管理儲(chǔ)存難度大，無法快速地完成
2023-12-25 16:42:04179 
隨著現(xiàn)代電子技術(shù)的快速發(fā)展，半導(dǎo)體器件在各個(gè)領(lǐng)域中的應(yīng)用越來越廣泛。而為了確保半導(dǎo)體器件的質(zhì)量和性能，進(jìn)行準(zhǔn)確的半導(dǎo)體性能測(cè)試顯得尤為重要?；魻栃?yīng)作為一種常用的測(cè)試手段，在半導(dǎo)體性能測(cè)試中發(fā)
2023-12-25 14:52:30279 半導(dǎo)體可靠性測(cè)試主要是為了評(píng)估半導(dǎo)體器件在實(shí)際使用過程中的可靠性和穩(wěn)定性。這些測(cè)試項(xiàng)目包括多種測(cè)試方法和技術(shù)，以確保產(chǎn)品的性能、質(zhì)量和可靠性滿足設(shè)計(jì)規(guī)格和用戶需求。下面是關(guān)于半導(dǎo)體可靠性測(cè)試的詳細(xì)
2023-12-20 17:09:04696 據(jù)悉，潤(rùn)鵬半導(dǎo)體是華潤(rùn)微電子與深圳市合力推出的精于半導(dǎo)體特色工藝的12英寸晶圓制造項(xiàng)目。主要研發(fā)方向包括CMOS、BCD、e-Flash等工藝
2023-12-20 14:13:25214 根據(jù)不同的誘因，常見的對(duì)半導(dǎo)體器件的靜態(tài)損壞可分為人體，機(jī)器設(shè)備和半導(dǎo)體器件這三種。
當(dāng)靜電與設(shè)備導(dǎo)線的主體接觸時(shí)，設(shè)備由于放電而發(fā)生充電，設(shè)備接地，放電電流將立即流過電路，導(dǎo)致靜電擊穿。外部物體
2023-12-12 17:18:54
0.1 fA 和 200 V 至 100 nV DC，是測(cè)試非常敏感的低電流半導(dǎo)體設(shè)備等的完美之選。2635B 是單通道型號(hào)，其中 2634B 和 2636B 是雙
2023-12-07 11:51:49
【半導(dǎo)體后端工藝：】第一篇了解半導(dǎo)體測(cè)試
2023-11-24 16:11:50484 
半導(dǎo)體芯片剪切力測(cè)試機(jī)-8600產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)1、電腦自動(dòng)選取合適的推拉刀，無需人手更換2、采用進(jìn)口傳動(dòng)部件結(jié)合獨(dú)特力學(xué)算法，確保機(jī)臺(tái)運(yùn)行穩(wěn)定性及測(cè)試精度。3、多功能四軸自動(dòng)控制運(yùn)動(dòng)平臺(tái)，采用進(jìn)口傳動(dòng)部件
2023-11-16 18:07:29
想要了解升級(jí)，這篇文章可以給你答案。 使用測(cè)試儀器的客戶，肯定知道什么是升級(jí)。新的測(cè)試能力需求或擴(kuò)展儀器功能，我們需要對(duì)儀器進(jìn)行升級(jí)，來提高測(cè)試設(shè)備的利用率。 升級(jí)有哪些類型？ 如何升級(jí)？ 升級(jí)需要
2023-11-15 07:40:02373 
半導(dǎo)體封裝測(cè)試設(shè)備led推拉力測(cè)試機(jī)設(shè)備介紹，一文說明白
2023-11-10 16:48:11268 
半導(dǎo)體材料是制作半導(dǎo)體器件與集成電路的基礎(chǔ)電子材料。隨著技術(shù)的發(fā)展以及市場(chǎng)要求的不斷提高，對(duì)于半導(dǎo)體材料的要求也越來越高。因此對(duì)于半導(dǎo)體材料的測(cè)試要求和準(zhǔn)確性也隨之提高，防止由于其缺陷和特性而影響半導(dǎo)體器件的性能。
2023-11-10 16:02:30690 可靠性測(cè)試是半導(dǎo)體器件測(cè)試的一項(xiàng)重要測(cè)試內(nèi)容，確保半導(dǎo)體器件的性能和穩(wěn)定性，保證其在各類環(huán)境長(zhǎng)時(shí)間工作下的穩(wěn)定性。半導(dǎo)體可靠性測(cè)試項(xiàng)目眾多，測(cè)試方法多樣，常見的有高低溫測(cè)試、熱阻測(cè)試、機(jī)械沖擊測(cè)試、引線鍵合強(qiáng)度測(cè)試等。
2023-11-09 15:57:52744 
什么是半導(dǎo)體的成品測(cè)試系統(tǒng)，如何測(cè)試其特性？ 半導(dǎo)體的成品測(cè)試系統(tǒng)是用于測(cè)試制造出來的半導(dǎo)體器件的一種設(shè)備。它可以通過一系列測(cè)試和分析來確定半導(dǎo)體器件的性能和功能是否符合設(shè)計(jì)規(guī)格。 半導(dǎo)體器件是現(xiàn)代
2023-11-09 09:36:44265 半導(dǎo)體IC測(cè)試解決方案測(cè)試的指標(biāo)包含哪些？ 半導(dǎo)體IC測(cè)試解決方案的指標(biāo)可以根據(jù)不同的需求和應(yīng)用來確定。下面將詳細(xì)介紹一些常見的測(cè)試指標(biāo)。 1. 電氣性能測(cè)試指標(biāo)： 電氣性能測(cè)試是半導(dǎo)體IC測(cè)試
2023-11-09 09:24:20421 對(duì)于半導(dǎo)體器件而言熱阻是一個(gè)非常重要的參數(shù)和指標(biāo)，是影響半導(dǎo)體性能和穩(wěn)定性的重要因素。如果熱阻過大，那么半導(dǎo)體器件的熱量就無法及時(shí)散出，導(dǎo)致半導(dǎo)體器件溫度過高，造成器件性能下降，甚至損壞器件。因此，半導(dǎo)體熱阻測(cè)試是必不可少的，納米軟件將帶你了解熱阻測(cè)試的方法。
2023-11-08 16:15:28686 
半導(dǎo)體如今在集成電路、通信系統(tǒng)、照明等領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用，是一種非常重要的材料。在半導(dǎo)體行業(yè)中，半導(dǎo)體測(cè)試是特別關(guān)鍵的環(huán)節(jié)，以保證半導(dǎo)體器件及產(chǎn)品符合規(guī)定和設(shè)計(jì)要求，確保其質(zhì)量和性能。
2023-11-07 16:31:17302 
2420keithley/吉時(shí)利 2420 高壓源表描述吉時(shí)利SourceMeter（數(shù)字源表）keithley/吉時(shí)利 2420系列是專為要求緊密結(jié)合激勵(lì)源和測(cè)量功能，要求精密電壓源并同時(shí)進(jìn)行電流
2023-11-06 16:49:46
穩(wěn)定性，一致性，為半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試提供高可靠性的測(cè)試解決方案。此外聯(lián)訊成熟的設(shè)備生產(chǎn)和交付經(jīng)驗(yàn)，本地化的技術(shù)支持團(tuán)隊(duì)，也為整機(jī)交付與維護(hù)升級(jí)提供可靠的保障。
2023-11-06 16:27:57467 
傳統(tǒng)意義的半導(dǎo)體測(cè)試指基于ATE機(jī)臺(tái)的產(chǎn)品測(cè)試，分為wafer level的CP測(cè)試(chip probing）或FE測(cè)試（FrontEnd test）和封裝之后的FT測(cè)試（final test
2023-11-06 15:33:002537 
2410KEITHLEY吉時(shí)利2410 數(shù)字源表介紹：吉時(shí)利SourceMeter（數(shù)字源表）系列是專為要求緊密結(jié)合激勵(lì)源和測(cè)量功能，要求精密電壓源并同時(shí)進(jìn)行電流與電壓測(cè)量的測(cè)試應(yīng)用而設(shè)計(jì)的。 有源
2023-11-03 17:21:04
2400吉時(shí)利2400 keithley2400吉時(shí)利數(shù)字源表系列于要求緊密結(jié)合源和測(cè)量的測(cè)試應(yīng)用。全部數(shù)字源表型號(hào)都提供精密電壓源和電流源以及測(cè)量功能。每款數(shù)字源表既是高度穩(wěn)定的直流電源也是真儀器
2023-11-02 18:04:11
芯片老化測(cè)試的目的是為了評(píng)估芯片長(zhǎng)期在各種環(huán)境下工作的壽命、性能及可靠性，以確保芯片及系統(tǒng)的工作穩(wěn)定性。往期我們分享了芯片老化測(cè)試的內(nèi)容及注意事項(xiàng)，今天我們將分享如何用納米軟件半導(dǎo)體老化測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試芯片老化。
2023-10-16 15:49:32469 
一 F-200A-60V 半導(dǎo)體器件測(cè)試機(jī)專為以下測(cè)試需求研制： 二 技術(shù)參數(shù)
2023-10-12 15:38:30
半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)是指在交流條件下對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試，是確保半導(dǎo)體性能、穩(wěn)定性和可靠性的重要依據(jù)。動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)主要有開關(guān)時(shí)間、開關(guān)損耗、反向恢復(fù)電流、開關(guān)電流、耗散功率等。
2023-10-10 15:23:38278 
半導(dǎo)體靜態(tài)測(cè)試參數(shù)是指在直流條件下對(duì)其進(jìn)行測(cè)試，目的是為了判斷半導(dǎo)體分立器件在直流條件下的性能，主要是測(cè)試半導(dǎo)體器件在工作過程中的電流特性和電壓特性。ATECLOUD半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)采用軟硬件架構(gòu)為測(cè)試工程師提供整體解決方案，此系統(tǒng)可程控，可以實(shí)現(xiàn)隨時(shí)隨地測(cè)試，移動(dòng)端也可實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試數(shù)據(jù)情況。
2023-10-10 15:05:30415 半導(dǎo)體測(cè)試是電子行業(yè)中至關(guān)重要的環(huán)節(jié)，它對(duì)于保證產(chǎn)品質(zhì)量、提高生產(chǎn)效率起著至關(guān)重要的作用。在半導(dǎo)體測(cè)試過程中，我們需要采用一系列的方法和原理來確保芯片的可靠性和性能穩(wěn)定性，而前置微小信號(hào)放大器
2023-10-07 16:03:24195 
本文檔的主要內(nèi)容詳細(xì)介紹的是半導(dǎo)體芯片的制作和半導(dǎo)體芯片封裝的詳細(xì)資料概述
2023-09-26 08:09:42
Keithley吉時(shí)利2612B雙通道SMU儀器數(shù)字源表，用于中低電平測(cè)試，Keithley吉時(shí)利2611B、2612B和2634B系統(tǒng)Sourcemeter SMU儀器為 30W DC
2023-09-22 14:52:32
吉時(shí)利 2614B - 出租吉時(shí)利 2614B Keithley 2614B 源表可讓您比以前更快、更輕松、更經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行精密直流、脈沖和低頻交流源測(cè)量測(cè)試。Keithley
2023-09-20 10:16:00
芯片測(cè)試大講堂系列 又和大家見面了 本期我們來聊聊 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試 內(nèi)容涉及半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試原理， 參數(shù)測(cè)試面臨的挑戰(zhàn)與實(shí)測(cè)避坑指南。 前言 ● 半導(dǎo)體元器件是構(gòu)成現(xiàn)代電子設(shè)備和系統(tǒng)的基礎(chǔ)，其性能
2023-09-13 07:45:021209 
吉時(shí)利7001數(shù)據(jù)采集儀/開關(guān)控制keithley7001 吉時(shí)利7001數(shù)據(jù)采集儀/開關(guān)控制keithley70017001是一個(gè)半機(jī)架尺寸的高密度開關(guān)控制器，在工業(yè)測(cè)試測(cè)量方面支持zui寬范圍
2023-09-05 11:58:29
軟件,分別是APS4000航空電力系統(tǒng)仿真軟件以及SPS5000半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試軟件。全面升級(jí)服務(wù)于航空、重船重工以及半導(dǎo)體三大專業(yè)領(lǐng)域，為用戶帶來全新的測(cè)試體驗(yàn)。 ? APS4000航空電力系統(tǒng)仿真軟件主要服務(wù)于航空與船舶領(lǐng)域的機(jī)載用電設(shè)備法規(guī)認(rèn)證測(cè)試。不同于傳統(tǒng)的測(cè)試方案
2023-09-04 16:38:58193 
什么是芯片封測(cè)？半導(dǎo)體測(cè)試封裝用到什么材料？ 芯片封測(cè)是指將半導(dǎo)體制成芯片后進(jìn)行測(cè)試和封裝，以充分發(fā)揮其性能。在半導(dǎo)體生產(chǎn)的整個(gè)流程中，封測(cè)步驟是至關(guān)重要的一步，它能夠有效檢測(cè)出芯片的缺陷，提高芯片
2023-08-24 10:42:003828 KEITHLEY吉時(shí)利2600A系列數(shù)字源表以性能的擴(kuò)展替代受歡迎的2600系列數(shù)字源表。因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">吉時(shí)利2600A系列提供后向代碼兼容至2600系列，所以客戶能用吉時(shí)利2600A系列簡(jiǎn)易替換2600系列
2023-08-23 10:25:38
高精度半導(dǎo)體芯片推拉力測(cè)試儀免費(fèi)測(cè)樣品半導(dǎo)體芯片測(cè)試是半導(dǎo)體制造過程中非常重要的一環(huán)。芯片測(cè)試流程：芯片測(cè)試一般分為兩個(gè)階段，一個(gè)是CP（Chip Probing）測(cè)試，也就是晶圓（Wafer）測(cè)試
2023-08-22 17:54:57
KEITHLEY吉時(shí)利2612A數(shù)字源表雙通道/吉時(shí)利2612吉時(shí)利2600A系列簡(jiǎn)易替換2600系列一個(gè)緊湊的單元中綜合了如下功能：精密電壓源、高精度電流源、數(shù)字多用表、任意波形發(fā)生器
2023-08-22 16:04:11
Keithley6485吉時(shí)利6485皮安表吉時(shí)利5位半數(shù)字的6485皮安計(jì)，結(jié)合了吉時(shí)利在靈敏電流測(cè)量?jī)x器方面的專業(yè)知識(shí)，具有更高的速度和堅(jiān)固的設(shè)計(jì)。吉時(shí)利6485具有8個(gè)電流測(cè)量范圍
2023-08-18 16:43:43
半導(dǎo)體：生產(chǎn)過程主要可分為（晶圓制造 Wafer Fabrication） 、（封裝工序 Packaging）、（測(cè)試工序 Test） 幾個(gè)步驟。
2023-08-17 11:12:32781 
吉時(shí)利6517A靜電計(jì)/高阻表6517B吉時(shí)利6517A/6517B在電流、電阻、電壓和電荷測(cè)量量程的整個(gè)頻寬上提供了自動(dòng)量程功能。吉時(shí)利5位半6517B靜電計(jì)/高阻表提供的精 度
2023-08-14 14:42:59
燒錄器是MCU研發(fā)過程不可或缺的工具、硬件設(shè)備。近日，愛普特微電子推出全新升級(jí)版燒錄器——WD02S、WD02mini。該燒錄器高度集成，操作簡(jiǎn)單，可以快速實(shí)現(xiàn)MCU的編程、測(cè)試等任務(wù)，具有超高
2023-08-11 11:20:25799 
先楫半導(dǎo)體使用上怎么樣？
2023-08-08 14:56:29
Keithley 2636A雙通道系統(tǒng)數(shù)字源表 吉時(shí)利2600A系列數(shù)字源表是新的I-V源-測(cè)量?jī)x器，既可以用作桌面級(jí)I-V特性分析工具，也可以成為多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)
2023-08-08 14:21:06
30多種開關(guān)/控制卡吉時(shí)利7001是一個(gè)半機(jī)架尺寸的高密度開關(guān)控制器，在工業(yè)測(cè)試測(cè)量方面支持最寬范圍的信號(hào)接入。DC開關(guān)能力從納伏到1100伏，從飛安(10-15A
2023-08-04 16:30:06
。萬用表功能包括高重復(fù)性和低噪音。其結(jié)果形成了一個(gè) 緊湊的單通道直流參數(shù)測(cè)試儀。在操作中，這些儀器可以作為一個(gè)電壓源，電流源，電壓表，電流表和歐姆表。通信、半導(dǎo)體、計(jì)算
2023-08-04 14:43:41
近日，封裝測(cè)試領(lǐng)先企業(yè)藍(lán)箭電子開啟申購(gòu)！藍(lán)箭電子本次募集資金擬投資6.01億元，其中5.43億元將用于半導(dǎo)體封裝測(cè)試擴(kuò)建項(xiàng)目，5765.62萬元將用于研發(fā)中心建設(shè)項(xiàng)目。
2023-08-02 10:05:28314 
來源：半導(dǎo)體芯科技編譯 安全邊緣平臺(tái)結(jié)合了先進(jìn)的數(shù)據(jù)分析解決方案和優(yōu)化測(cè)試流程。 泰瑞達(dá)推出了Teradyne Archimedes分析解決方案，這是一種開放式架構(gòu)，可為半導(dǎo)體測(cè)試帶來實(shí)時(shí)分析、優(yōu)化
2023-07-20 18:00:27362 在半導(dǎo)體器件中，常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。 在大多數(shù)情況下，加速測(cè)試不改變故障的物理特性，但會(huì)轉(zhuǎn)移觀察時(shí)間。 加速條件和正常使用條件之間的轉(zhuǎn)移稱為“降額”。那么半導(dǎo)體可靠性測(cè)試有哪些？讓凱智通小編告訴你~
2023-07-13 14:47:182537 
吉時(shí)利源表是一款用于光纖光功率測(cè)量的儀器。它可以通過自動(dòng)掃描功能，實(shí)現(xiàn)對(duì)不同波長(zhǎng)下的光功率進(jìn)行連續(xù)測(cè)量。以下是設(shè)置吉時(shí)利源表自動(dòng)掃描功能的詳細(xì)步驟： 1. 準(zhǔn)備工作： ?? - 確保吉時(shí)利源表已正確
2023-07-05 17:43:42314 
，40000名專業(yè)觀眾觀展。光庫(kù)科技攜升級(jí)版光學(xué)延遲線、高功率連續(xù)光纖激光器件、激光雷達(dá)光源模塊以及鈮酸鋰調(diào)制器等產(chǎn)品亮相本次光博會(huì)，引起現(xiàn)場(chǎng)廣泛關(guān)注。 ?升級(jí)版光纖延遲線 ? 光庫(kù)科技全新推出的升級(jí)版光學(xué)延遲線，集成步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)、控制器和狀態(tài)傳感器，支持RS-232 通訊標(biāo)準(zhǔn)。采用矢量微
2023-07-05 10:58:27405 2023年6月30日，由概倫電子、MPI、羅德與施瓦茨聯(lián)合主辦的半導(dǎo)體電性測(cè)試用戶大會(huì)在上海成功舉行?，F(xiàn)場(chǎng)，來自半導(dǎo)體測(cè)試行業(yè)十余家頭部企業(yè)的近百位測(cè)試工程師齊聚，圍繞“共建半導(dǎo)體測(cè)試生態(tài)圈”的主題
2023-07-03 14:05:01584 
近日，杭州廣立微電子股份有限公司正式推出了新一代通用型高性能半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)T4000。該系列產(chǎn)品是對(duì)公司現(xiàn)有并行perpin測(cè)試設(shè)備T4100S的重要補(bǔ)充，能夠覆蓋不同用戶的使用需求。T4000
2023-07-03 11:44:22479 光隔離探頭主要用于開關(guān)電源、逆變器、充電樁、變頻器、電機(jī)驅(qū)動(dòng)等由功率半導(dǎo)體組成的高壓高頻電路的測(cè)試，尤其是寬禁帶半導(dǎo)體器件包括氮化鎵、碳化硅器件組成的半/全橋電路的測(cè)試。
2023-06-27 17:32:33555 
半導(dǎo)體：生產(chǎn)過程主要可分為（晶圓制造 Wafer Fabrication） 、（封裝工序 Packaging）、（測(cè)試工序 Test） 幾個(gè)步驟。
2023-06-27 14:15:201230 
升級(jí)到半橋GaN功率半導(dǎo)體
2023-06-21 11:47:21
測(cè)試產(chǎn)品：芯片半導(dǎo)體器件。納米軟件ATECLOUD-IC芯片自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)適用于二極管、三極管、絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)管、結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管、單向和雙向可控硅、普通和高速光耦、整流橋、共陰共陽(yáng)二極管及多陣列器件等各類半導(dǎo)體分立器件綜合性能自動(dòng)化測(cè)試。
2023-06-20 16:55:17767 
超六類網(wǎng)線是六類網(wǎng)線的升級(jí)版，六類網(wǎng)線升級(jí)版超六類網(wǎng)線哪些地方升級(jí)了?與六類網(wǎng)線相比，超六類網(wǎng)線的外徑更大、質(zhì)量更重、最小彎曲半徑也更大，并且超六類網(wǎng)線的最大傳輸距離為100m，同時(shí)可以和六類
2023-06-14 10:19:53378 
博森源半導(dǎo)體推拉力測(cè)試機(jī)可根據(jù)客戶實(shí)際需要設(shè)立力量定值2g結(jié)束拉力試驗(yàn)，不進(jìn)行破壞性試驗(yàn)，同時(shí)需要進(jìn)行位移設(shè)定（行程）此項(xiàng)要求通過我司測(cè)試軟件完成。
2023-06-08 17:55:071305 
5年為行業(yè)累計(jì)提供5萬+人才，為2000家以上半導(dǎo)體企業(yè)提供人才和相關(guān)saas軟件服務(wù)。
徐海燕
半導(dǎo)體HR公會(huì)秘書長(zhǎng)/資深人力資源專家
擁有英國(guó)IPMA認(rèn)證國(guó)際職業(yè)培訓(xùn)師及律師資格，也是亞太人才
2023-06-01 14:52:23
詳解半導(dǎo)體封裝測(cè)試工藝
2023-05-31 09:42:18996 
表征和測(cè)試。TSP（測(cè)試腳本處理）技術(shù)在儀器內(nèi)嵌入完整的測(cè)試程序，以實(shí)現(xiàn)一流的系統(tǒng)級(jí)吞吐量無需主機(jī)的多通道并行測(cè)試的 TSP-Link 擴(kuò)展技術(shù)吉時(shí)利 2400 型
2023-05-24 15:10:43
美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2450源表典型應(yīng)用非常適合當(dāng)今多種現(xiàn)代化電子器件的電流/電壓特性分析和功能測(cè)試，包括：納米材料與器件–石墨烯–碳納米管–納米線–低功耗納米結(jié)構(gòu)半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)–晶圓–薄膜有機(jī)
2023-05-24 09:21:48
近日某院校送修吉時(shí)利半導(dǎo)體特性分析儀4200-SCS，客戶反饋半導(dǎo)體特性分析儀自檢不過，進(jìn)不了測(cè)試界面，后面燒了CH1無法開機(jī)，對(duì)儀器進(jìn)行初步檢測(cè)，確定與客戶描述故障一致。本期將為大家分享本維修
2023-05-18 17:11:46444 
軟件概述 NS-SourceMeter皮安表程控軟件用于實(shí)現(xiàn)吉時(shí)利皮安表的上位機(jī)控制功能，通過在軟件上的相應(yīng)操作，控制皮安表進(jìn)行配置或者測(cè)量，同時(shí)可以對(duì)測(cè)量的數(shù)據(jù)和圖形進(jìn)行保存
2023-05-09 11:05:00818 
KEITHLEY2636A數(shù)字源表將一個(gè)緊湊的單元中綜合了如下功能：精密電壓源、高精度電流源、數(shù)字多用表、任意波形發(fā)生器、電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負(fù)載以及觸發(fā)控制器代碼后向兼容吉時(shí)利2600系列數(shù)字源表便于更換 TSP Express軟件工具實(shí)現(xiàn)快速、便捷的I-V測(cè)試精密定時(shí)和信道同步（
2023-04-18 11:43:53
吉時(shí)利2400數(shù)字多用表，特別適用于需要精密電壓源和電流源驅(qū)動(dòng)，同時(shí)進(jìn)行電流與電壓測(cè)量的測(cè)試應(yīng)用。簡(jiǎn)介吉時(shí)利2400數(shù)字多用表 [1] （源表）系列所有源表都提供精密的電壓和電流源測(cè)量
2023-04-18 11:34:58
最近有很多人問到，半導(dǎo)體測(cè)試和IC現(xiàn)貨芯片測(cè)試是一回事嗎？今天安瑪科技小編為大家解惑。 半導(dǎo)體測(cè)試并不一定等同于IC現(xiàn)貨芯片測(cè)試，兩者也不完全是一回事。半導(dǎo)體測(cè)試實(shí)際上是半導(dǎo)體設(shè)備中的一項(xiàng)技術(shù)
2023-04-17 18:09:36857 
詳細(xì)介紹KEITHLEY 2306 吉時(shí)利 通訊測(cè)試電源 電池模擬器 吉時(shí)利2306手機(jī)程控電源品牌：KEITHLEY 美國(guó)吉時(shí)利2302 型電池模擬器/2306型雙通道電池充電器/模擬器主要特點(diǎn)
2023-04-14 17:39:10
全自動(dòng)半導(dǎo)體激光COS測(cè)試機(jī)TC 1000 COS（chip on submount）是主流的半導(dǎo)體激光器封裝形式之一，對(duì)COS進(jìn)行全功能的測(cè)試必不可少
2023-04-13 16:28:40
不用在測(cè)試之前對(duì)軟件進(jìn)行復(fù)雜耗時(shí)地?fù)跷辉O(shè)置。所有測(cè)試傳感器模塊均采用垂直位移定位技術(shù)，確保測(cè)試的狀態(tài)可靠，定位地動(dòng)作快速?？煞胖玫米笥覔u桿控制器，操作舒適得搖桿控制器。 ? ? 便攜式半導(dǎo)體推力測(cè)試儀特點(diǎn)： ?
2023-04-12 17:58:08399 微控制器、微處理器和周邊芯片，以及配套的開發(fā)工具和生態(tài)系統(tǒng)。先楫半導(dǎo)體先后發(fā)布高性能MCU產(chǎn)品 HPM67/64/6300 及HPM6200系列并已成功實(shí)現(xiàn)量產(chǎn)，今年還將有多款產(chǎn)品推出。產(chǎn)品以質(zhì)量為本，所有
2023-04-10 18:39:28
吉時(shí)利 2602B 源表讓您可以比以前更快、更輕松、更經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行精密直流、脈沖和低頻交流源測(cè)量測(cè)試。Keithley 2602B 通過結(jié)合以下特性，為 IV 功能測(cè)試提供競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品的兩到四倍的測(cè)試速度
2023-04-07 17:03:37
吉時(shí)利最新的I-V源-測(cè)量?jī)x器，既可以用作桌面級(jí)I-V特性分析工具，也可以成為多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的組成部分。對(duì)于桌面級(jí)的應(yīng)用，吉時(shí)利2600A系列提供一款嵌入式TSP Express測(cè)試軟件，允許
2023-04-07 13:57:42
簡(jiǎn)介：吉時(shí)利 6430 亞毫微微安遠(yuǎn)程源表結(jié)合了吉時(shí)利流行的源表和源測(cè)量單元 (SMU) 產(chǎn)品的電壓和電 流源和測(cè)量功能，以及優(yōu)于靜電計(jì)的靈敏度、噪聲和輸入電阻規(guī)格
2023-04-07 10:40:38
日前，是德科技成立【半導(dǎo)體設(shè)計(jì)和測(cè)試北京實(shí)驗(yàn)室】（SEMICONDUCTOR DESIGN AND TEST BEIJING LABORATORY），并邀請(qǐng)各路專家見證啟動(dòng)開幕。實(shí)驗(yàn)室以是德測(cè)試
2023-03-27 09:28:42943 2600系列系統(tǒng)源表儀器為電子元件和半導(dǎo)體設(shè)備制造商提供可擴(kuò)展、高吞吐量、高成本效益的精密直流、脈沖和低頻交流源測(cè)量測(cè)試解決方案?；谧畛鯙?b class="flag-6" style="color: red">吉時(shí)利廣受歡迎的2400系列SourceMeter系列開發(fā)
2023-03-24 11:05:34
交流電源測(cè)量測(cè)試。吉時(shí)利 2612B 通過結(jié)合以下功能，提供 IV 功能測(cè)試競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品的兩到四倍的測(cè)試速度：吉時(shí)利的高速第三代電源測(cè)量單元 (SMU) 設(shè)計(jì)嵌入式測(cè)試腳本
2023-03-23 09:26:26
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