LED芯片觀察(掃描電鏡)SEM失效分析

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芯片(407687) 芯片(407687)
SEM(14323) SEM(14323)
失效分析(66160) 失效分析(66160)

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電鏡常用元素分析方法：EDS、EELS、HAADF-STEM

不同的波長(zhǎng)λ對(duì)應(yīng)于不同的原子序數(shù)Z。根據(jù)這個(gè)特征能量，即可知所分析的區(qū)域存在什么元素及各元素的含量。根據(jù)掃描的方式， EDS 可分為點(diǎn)分析、線掃描及面掃描三種：EDS 點(diǎn)分析是將電子束固定于樣品中某一點(diǎn)上，進(jìn)行定性或者定量的分析。

2023-09-28 15:54:34

1719

LGA封裝芯片焊接失效

NO.1 案例背景某攝像頭模組，在生產(chǎn)測(cè)試過(guò)程中發(fā)生功能不良失效，經(jīng)過(guò)初步的分析，判斷可能是LGA封裝主芯片異常。 NO.2 分析過(guò)程 #1 X-ray分析樣品#1 樣品#2 測(cè)試結(jié)果：兩個(gè)失效

2023-09-28 11:42:21

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季豐電子新熱場(chǎng)電子顯微鏡可幫助客戶(hù)快速獲取清晰的圖像

? 季豐電子目前擁有蔡司GeminiSEM500掃描電鏡SEM熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，可為客戶(hù)呈現(xiàn)任意樣品表面更強(qiáng)的信號(hào)和更豐富的細(xì)節(jié)信息；尤其在低的加速電壓下，可在避免樣品損傷的同時(shí)，快速獲取更高

2023-09-23 09:50:44

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2023國(guó)產(chǎn)掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用研討會(huì)順利召開(kāi)

（合肥）技術(shù)有限公司承辦的“2023國(guó)產(chǎn)掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用研討會(huì)”在合肥召開(kāi)。來(lái)自中國(guó)科學(xué)院、北京大學(xué)、中南大學(xué)、中國(guó)農(nóng)科院、中國(guó)醫(yī)學(xué)科學(xué)院、浙江中醫(yī)藥大學(xué)等高?？蒲?/div>

2023-09-13 08:30:05

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各種材料失效分析檢測(cè)方法

失效分析是一門(mén)發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開(kāi)始從軍工向普通企業(yè)普及，它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開(kāi)發(fā)、改進(jìn)，產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。

2023-09-12 09:51:47

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集成電路為什么要做失效分析？失效分析流程？

失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。

2023-09-06 10:28:05

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聚焦離子束FIBSEM切片測(cè)試【博仕檢測(cè)】

聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng) FIB-SEM應(yīng)用聚焦離子束-掃描電鏡雙束系統(tǒng)主要用于表面二次電子形貌觀察、能譜面掃描、樣品截面觀察、微小樣品標(biāo)記以及TEM超薄片樣品的制備。 1.FIB切片

2023-09-05 11:58:27

蔡司掃描電鏡在第三代半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用成果

掃描電子顯微鏡-電子通道對(duì)比成像（SEM-ECCI）是在掃描電子顯微鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)取代了透射電子顯微鏡（TEM）在缺陷表征領(lǐng)域的部分功能。與TEM

2023-09-04 14:56:47

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集成電路失效分析

IC。然而，IC在使用過(guò)程中也可能出現(xiàn)失效的情況，從而影響到整個(gè)設(shè)備的使用效果。因此，對(duì)IC失效分析的研究變得越來(lái)越重要。 IC失效的原因有很多，例如因?yàn)楣に囘^(guò)程中的不良導(dǎo)致芯片內(nèi)部有缺陷，或者長(zhǎng)時(shí)間使用導(dǎo)致老化而出現(xiàn)失效等。為了找出IC失效的原因，在

2023-08-29 16:35:13

627

芯片失效分析方法芯片失效原因分析

芯片失效分析方法芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展，各種芯片被廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)生產(chǎn)和家庭電器中。然而，在使用過(guò)程中，芯片的失效是非常常見(jiàn)的問(wèn)題。芯片失效分析是解決這個(gè)問(wèn)題的關(guān)鍵。芯片

2023-08-29 16:29:11

2800

半導(dǎo)體失效分析

半導(dǎo)體失效分析? 半導(dǎo)體失效分析——保障電子設(shè)備可靠性的重要一環(huán) 隨著電子科技的不斷發(fā)展，電子設(shè)備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分，而半導(dǎo)體也是電子設(shè)備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉(zhuǎn)化

2023-08-29 16:29:08

736

EDS面掃、線掃、點(diǎn)掃的應(yīng)用

能譜儀（EDS）是一種快速分析樣品微區(qū)內(nèi)元素種類(lèi)及含量的重要工具，通常與掃描電鏡（SEM）、透射電鏡（TEM）組合使用，實(shí)現(xiàn)形貌與成分的對(duì)照。它的工作原理是：當(dāng)電子束掃描樣品時(shí)，不同元素被激發(fā)出來(lái)的x射線能量不同，通過(guò)探測(cè)這些特征X射線的能量與強(qiáng)度，可以確定樣品中的元素組成和含量。

2023-08-29 09:43:24

1952

鉭電容失效分析鉭電容失效原因分析鉭電容燒壞的幾種原因 ;我需要詳盡、詳實(shí)、細(xì)致的最少1500字的文

鉭電容失效分析鉭電容失效原因分析鉭電容燒壞的幾種原因鉭電容是一種電子元器件，通常用于將電場(chǎng)儲(chǔ)存為電荷的裝置。它們具有高電容和低ESR等優(yōu)點(diǎn)，因此被廣泛應(yīng)用于數(shù)字電路、模擬電路和電源等領(lǐng)域。然而

2023-08-25 14:27:56

2133

國(guó)儀量子高速掃描電子顯微鏡HEM6000

“在大規(guī)模成像場(chǎng)景中，常規(guī)掃描電鏡成像速度和自動(dòng)化程度都無(wú)法滿(mǎn)足應(yīng)用需求。例如，在芯片結(jié)構(gòu)成像應(yīng)用中，需要在幾周內(nèi)完成數(shù)百平方毫米區(qū)域的連續(xù)拍攝；在人類(lèi)腦圖譜研究中，需要對(duì)百億級(jí)神經(jīng)元進(jìn)行高分辨成像

2023-08-09 08:29:23

453

蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)

蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對(duì)于材料科學(xué)、電子、地質(zhì)、物理、化工、農(nóng)醫(yī)、公安、食品和輕工等領(lǐng)域的科學(xué)研究，人們總是關(guān)心微觀形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成與宏觀物理或化學(xué)性質(zhì)之間的關(guān)系。光學(xué)顯微系統(tǒng)

2023-08-08 15:50:35

1419

蔡司掃描電鏡下金剛石形貌

金剛石礦物的晶體結(jié)構(gòu)屬于等軸晶系同極鍵四面體結(jié)構(gòu)。碳原子位于四面體的角部和中心，具有高度的對(duì)稱(chēng)性。晶胞中的碳原子以同極鍵連接，距離為154pm。。常見(jiàn)的晶形有八面體、菱形十二面體、立方體、四面體和六面體等。鉆石的應(yīng)用范圍非常廣泛，例如:工藝品和工業(yè)中的切割工具。石墨在高溫高壓下能形成人造金剛石，也是一種珍貴的寶石。中國(guó)也有制造鉆石的技術(shù)。需要注意的是，石墨和金剛石的物理性質(zhì)是完全不同的。鉆石有各種顏色，從無(wú)

2023-08-04 11:50:01

458

SEM5000交付中國(guó)農(nóng)科院作科所重大平臺(tái)中心

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000正式上線使用左側(cè)設(shè)備為鎢燈絲掃描電鏡SEM3200右側(cè)設(shè)備為場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000近日，國(guó)儀量子場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000交付中國(guó)農(nóng)科院作科所重大

2023-07-31 23:30:26

350

蔡司掃描電鏡在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用成果

掃描電鏡-電子通道襯度成像技術(shù)（SEM-ECCI）是一種在掃描電鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展在缺陷表征領(lǐng)域替代了一部分透射電鏡（TEM）的功能，相對(duì)透射電鏡分析而言

2023-07-31 15:59:56

330

半導(dǎo)體器件鍵合失效模式及機(jī)理分析

本文通過(guò)對(duì)典型案例的介紹，分析了鍵合工藝不當(dāng)，以及器件封裝因素對(duì)器件鍵合失效造成的影響。通過(guò)對(duì)鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析，以及對(duì)各種失效模式總結(jié)，闡述了鍵合工藝不當(dāng)及封裝不良，造成鍵合本質(zhì)失效的機(jī)理；并提出了控制有缺陷器件裝機(jī)使用的措施。

2023-07-26 11:23:15

930

蔡司熱場(chǎng)掃描電鏡Sigma 300電子顯微鏡

蔡司熱場(chǎng)掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠?qū)Ω鞣N材質(zhì)的導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實(shí)現(xiàn)樣品表面微觀區(qū)域內(nèi)的成分和織構(gòu)分析

2023-07-26 10:48:06

650

LED驅(qū)動(dòng)電路圖分享 LED驅(qū)動(dòng)電路的工作原理和失效機(jī)理分析

隨著市場(chǎng)需求的不斷增加，近年從事LED制造和研發(fā)的人員大大增加。LED企業(yè)亦如雨后春筍般成長(zhǎng)。由于從事LED驅(qū)動(dòng)研發(fā)的企業(yè)和人眾多，其技術(shù)水平參差不齊，研發(fā)出來(lái)的LED驅(qū)動(dòng)電路質(zhì)量好壞不一。導(dǎo)致LED燈具的失效時(shí)常發(fā)生，阻礙了LED照明的市場(chǎng)推廣。

2023-07-25 09:12:04

6864

微波GaAs功率芯片AuSn共晶焊接微觀組織結(jié)構(gòu)研究

摘要:文中采用Au80Sn20共晶焊料對(duì)GaAs功率芯片與MoCu基板進(jìn)行焊接，分析了焊接溫度、摩擦次數(shù)等工藝參數(shù)對(duì)共晶焊接的影響，給出了GaAs芯片共晶焊的工藝參數(shù)控制要求，通過(guò)掃描電鏡

2023-07-15 14:01:42

1276

蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SIGMA 500

蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SIGMA500采用了GEMINI電子束無(wú)交叉光路設(shè)計(jì)，打破了傳統(tǒng)設(shè)計(jì)中電子束交叉三次發(fā)生能量擴(kuò)散的局限性，束流大小適中，極大地降低色差對(duì)圖像質(zhì)量的影響;鏡筒內(nèi)置電子束加速器，無(wú)需

2023-07-14 16:26:59

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幾種常見(jiàn)的關(guān)于SEM IP的沖突

SEM IP是一種比較特殊的IP。它的基本工作就是不停地后臺(tái)掃描檢測(cè)FPGA配置RAM中的數(shù)據(jù)

2023-07-10 16:40:23

420

EM科特 CUBE-Ⅱ臺(tái)式桌面掃描電鏡與傳統(tǒng)掃描電鏡的區(qū)別

EM科特（EmCrafts）Cube系列桌面式掃描電鏡，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。區(qū)別與傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機(jī)身，Cube系列占地面積小，便攜性能好，可遵照客戶(hù)服務(wù)指南任意移動(dòng)SEM設(shè)備。 EM

2023-07-05 15:24:02

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關(guān)于EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列的特點(diǎn)分析

的高性能高效率，大樣品倉(cāng)內(nèi)含5軸共心電動(dòng)樣品臺(tái)，可更輕松地測(cè)量大尺寸樣品。 EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) l大尺寸樣品分析? Veritas系列可以分析常規(guī)SEM無(wú)法分析的大尺寸樣品。例如：晶圓，磁盤(pán) l無(wú)損樣品分析?? 無(wú)需切割即可分析樣品。例如PCB，半導(dǎo)體圖案分析 l較重

2023-07-05 15:13:38

270

SEM掃描電鏡工作原理，SEM掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用

等領(lǐng)域。SEM掃描電鏡分析實(shí)驗(yàn)室圖源：優(yōu)爾鴻信華南檢測(cè)中心SEM掃描電鏡工作原理SEM電鏡工作原理，主要基于聚焦的很窄的高能電子束來(lái)掃描樣品，通過(guò)光束與物質(zhì)間的相

2023-07-05 10:04:06

1995

AMEYA360談蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡Sigma系列

近日，蔡司中國(guó)新一代場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma系列新品線上發(fā)布會(huì)成功舉行。為了滿(mǎn)足新能源、新材料、電子半導(dǎo)體和集成電路、深海、航天、生命科學(xué)和考古學(xué)等熱門(mén)領(lǐng)域高分辨率成像和綜合分析的需要，蔡司

2023-07-04 15:39:24

249

BGA失效分析與改善對(duì)策

2023-06-26 10:47:41

438

集成電路封裝失效分析流程

為了防止在失效分析過(guò)程中丟失封裝失效證據(jù)或因不當(dāng)順序引人新的人為的失效機(jī)理，封裝失效分析應(yīng)按一定的流程進(jìn)行。

2023-06-25 09:02:30

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集成電路封裝失效分析方法

集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關(guān)的失效現(xiàn)象、形式（失效模式），查找封裝失效原因，確定失效的物理化學(xué)過(guò)程（失效機(jī)理），為集成電路封裝糾正設(shè)計(jì)、工藝改進(jìn)等預(yù)防類(lèi)似封裝失效的再發(fā)生，提升

2023-06-21 08:53:40

572

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 500規(guī)格參數(shù)

今天三本精密儀器小編給您介紹場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM500規(guī)格參數(shù)及樣品制備要求：一、樣品要求（1）本儀器不接收磁性、易潮、液體、有機(jī)、生物、不耐熱、熔融蒸發(fā)、松動(dòng)粉末或碎屑等有揮發(fā)物樣品

2023-06-19 11:15:40

813

講一下失效分析中最常用的輔助實(shí)驗(yàn)手段：亮點(diǎn)分析（EMMI）

EMMI：Emission microscopy 。與SEM，F(xiàn)IB，EB等一起作為最常用的失效分析手段。

2023-06-12 18:21:18

2310

LED數(shù)顯驅(qū)動(dòng)芯片/數(shù)碼管驅(qū)動(dòng)芯片VK1650,LED驅(qū)動(dòng)、鍵盤(pán)掃描，8段4位，8級(jí)亮度控制

? 產(chǎn)品品牌：永嘉微電/VINKA 產(chǎn)品型號(hào)：VK1650 封裝形式：SOP16 產(chǎn)品年份：新年份? 概述： VK1650是一種帶鍵盤(pán)掃描電路接口的 LED?驅(qū)動(dòng)控制專(zhuān)用芯片，內(nèi)部集成有數(shù)

2023-06-10 09:17:30

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喜提儀器行業(yè)大獎(jiǎng)！國(guó)儀量子場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000獲“3i獎(jiǎng)”

5月18日，2023第十六屆中國(guó)科學(xué)儀器發(fā)展年會(huì)(ACCSI2023)在北京雁棲湖國(guó)際會(huì)展中心盛大開(kāi)幕，并頒發(fā)“儀器及檢測(cè)3i獎(jiǎng)”。國(guó)儀量子自主研發(fā)的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000榮獲“3i

2023-05-30 17:19:16

366

LED驅(qū)動(dòng)電源失效的原因分析

LED驅(qū)動(dòng)電源作為LED照明中不可或缺的一部分，對(duì)其電子封裝技術(shù)要求亦愈發(fā)嚴(yán)苛，不僅需要具備優(yōu)異的耐候性能、機(jī)械力學(xué)性能、電氣絕緣性能和導(dǎo)熱性能，同時(shí)也需要兼顧灌封材料和元器件的粘接性。那么在LED驅(qū)動(dòng)電源的使用中，導(dǎo)致LED驅(qū)動(dòng)電源失效的原因都有哪些呢?下面就跟隨名錦坊小編一起來(lái)看看吧!

2023-05-18 11:21:19

851

淺談抗靜電指標(biāo)差的LED失效分析案例

紅光LED芯片是單電極結(jié)構(gòu)，它兩個(gè)電極之間的材質(zhì)、厚度、襯底材料與雙電極的藍(lán)綠光LED不一樣，所承受的靜電能量要比雙電極的高很多。

2023-05-15 09:26:20

423

怎樣進(jìn)行芯片失效分析？

失效分析為設(shè)計(jì)工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計(jì)，使之與設(shè)計(jì)規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。

2023-05-13 17:16:25

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TVS二極管失效機(jī)理與失效分析

。通過(guò)對(duì)TVS篩選和使用短路失效樣品進(jìn)行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征．結(jié)合器件結(jié)構(gòu)、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時(shí)所受的應(yīng)力等。采用理論分析和試驗(yàn)證明等方法分析導(dǎo)致7rvS器件短路失效的原因。

2023-05-12 17:25:48

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進(jìn)口芯片失效怎么辦？做個(gè)失效分析查找源頭

芯片對(duì)于電子設(shè)備來(lái)說(shuō)非常的重要，進(jìn)口芯片在設(shè)計(jì)、制造和使用的過(guò)程中難免會(huì)出現(xiàn)失效的情況。于是當(dāng)下，生產(chǎn)對(duì)進(jìn)口芯片的質(zhì)量和可靠性的要求越來(lái)越嚴(yán)格。因此進(jìn)口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來(lái)，那么進(jìn)口芯片失效分析常用的方法有哪些呢？下面安瑪科技小編為大家介紹。

2023-05-10 17:46:31

548

rt_sem_control的使用場(chǎng)景是什么？

在信號(hào)量的api中有一個(gè)api: rt_sem_control ,目前只支持一個(gè)命令RT_IPC_CMD_RESET 即重置信號(hào)量值，在官方的demo中經(jīng)?？吹竭@種用法rt_sem

2023-05-05 17:26:37

培訓(xùn)通知｜國(guó)儀量子2023年第二期SEM線下應(yīng)用培訓(xùn)班

課程簡(jiǎn)介為持續(xù)給國(guó)儀量子SEM用戶(hù)提供高質(zhì)量的使用體驗(yàn)，國(guó)儀量子電鏡事業(yè)部將搭建一個(gè)用戶(hù)與國(guó)儀量子應(yīng)用專(zhuān)家之間進(jìn)行深入技術(shù)交流的平臺(tái)，定期開(kāi)展在線和線下的應(yīng)用培訓(xùn)課程。本次線下課程以小班形式進(jìn)行教學(xué)

2023-04-21 09:20:47

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半導(dǎo)體集成電路失效分析原理及常見(jiàn)失效分析方法介紹！

失效分析（FA）是一門(mén)發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開(kāi)始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開(kāi)發(fā)

2023-04-18 09:11:21

1360

失效分析和可靠性測(cè)試：為什么SAM現(xiàn)在是必不可少的設(shè)備

對(duì)所有制造材料進(jìn)行100%全面檢查。制造商測(cè)試實(shí)驗(yàn)室、研發(fā)中心、材料研究小組和質(zhì)量控制部門(mén)，尋找微小缺陷正在刺激對(duì)掃描聲學(xué)顯微鏡(SAM)設(shè)備的投資。失效分析和可靠性檢測(cè)計(jì)量技術(shù)已變得至關(guān)重要，現(xiàn)在SAM與X射線和掃描電子顯微鏡(SEM)等其他實(shí)驗(yàn)室測(cè)試和測(cè)量?jī)x器并駕齊驅(qū)。

2023-04-14 16:21:39

925

喜報(bào)！國(guó)儀量子電子顯微鏡單年交付超100臺(tái)

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡。先進(jìn)的鏡筒設(shè)計(jì)，高壓隧道技術(shù)（SuperTunnel）、低像差無(wú)漏磁物鏡設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了低電壓高分辨率成像，同時(shí)

2023-04-12 11:38:30

572

BGA失效分析與改善對(duì)策

2023-04-11 10:55:48

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PCB失效分析技術(shù)總結(jié)

程中出現(xiàn)了大量的失效問(wèn)題。對(duì)于這種失效問(wèn)題，我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù)，來(lái)使得PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證，本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù)，供參考借鑒。

2023-04-10 14:16:22

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北京大學(xué)先進(jìn)光子集成公共平臺(tái)正式開(kāi)放運(yùn)行

該平臺(tái)擁有超凈間面積約300平方米，其中百級(jí)潔凈區(qū)50平米，配備了可完整涵蓋微加工需求的大、中、小型設(shè)備，包括電子束曝光機(jī)、掃描電鏡、磁控濺射儀、等離子刻蝕機(jī)、快速退火爐、精密貼片機(jī)、勻膠機(jī)、離子濺射儀、膜厚計(jì)、原子力顯微鏡、任意波形發(fā)生器、高速采樣示波器、信號(hào)分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀等。

2023-04-10 11:24:06

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