PMMA顆粒形貌觀察和直徑測(cè)量(掃描電鏡，SEM)

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SEM(14323) SEM(14323)
顆粒(8230) 顆粒(8230)
掃描電鏡(8844) 掃描電鏡(8844)

評(píng)論

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高端新品發(fā)布！國(guó)產(chǎn)雙束電鏡+超高分辨電鏡閃耀2023全國(guó)電鏡年會(huì)

10月26日，2023年全國(guó)電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)在東莞市召開(kāi)。國(guó)儀量子在會(huì)議期間重磅發(fā)布自主研制的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500、超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SEM5000X，開(kāi)啟了國(guó)產(chǎn)高端電鏡

2023-10-29 08:25:47

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白光干涉儀(光學(xué)輪廓儀)：揭秘測(cè)量坑的形貌的利器！

SuperViewW1白光干涉儀結(jié)合數(shù)字圖像處理技術(shù)和三維重建算法來(lái)提高測(cè)量的精度和效率，揭秘并測(cè)量坑的形貌，為科學(xué)研究和工程實(shí)踐提供更有力的支持。

2023-10-26 10:47:58

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一種晶圓表面形貌測(cè)量方法-WD4000

WD4000無(wú)圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。1、使用光譜共焦對(duì)射技術(shù)測(cè)量晶圓Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR

2023-10-24 09:42:25

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一文帶您了解場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

普通熱發(fā)射掃描電子顯微鏡相比，場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡具有更高的亮度和更小的電子束直徑，即更小的束斑尺寸和更高的分辨率。是納米尺度微區(qū)形貌分析的首選。 2. 文書(shū)組成場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡由場(chǎng)發(fā)射電子槍、電子束推進(jìn)器、聚光透

2023-10-23 14:56:39

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白光干涉儀(光學(xué)輪廓儀)：揭秘測(cè)量坑的形貌的利器！

干涉現(xiàn)象，使用白光源照射物體，并將反射光經(jīng)過(guò)干涉儀的分光裝置后形成干涉圖樣。通過(guò)觀察干涉圖樣的變化，就可以獲得物體表面形貌的細(xì)節(jié)信息。如何使用白光干涉儀來(lái)測(cè)量坑的形貌？

2023-10-20 09:52:21

你了解掃描電鏡的特點(diǎn)和結(jié)構(gòu)嗎

。特點(diǎn) 制樣簡(jiǎn)單、放大倍率可調(diào)范圍寬、圖像分辨率高、景深大、高保真度、真實(shí)的三維效果等特點(diǎn)。對(duì)于導(dǎo)電材料，它們可以直接放入樣品室進(jìn)行分析。對(duì)于導(dǎo)電性差或絕緣性差的樣品，需噴涂導(dǎo)電層。基本結(jié)構(gòu) 從結(jié)構(gòu)上看，掃描電鏡主

2023-10-19 15:38:30

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白光干涉儀(光學(xué)輪廓儀)：揭秘測(cè)量坑的形貌的利器！

SuperViewW1白光干涉儀結(jié)合數(shù)字圖像處理技術(shù)和三維重建算法來(lái)提高測(cè)量的精度和效率，揭秘并測(cè)量坑的形貌，為科學(xué)研究和工程實(shí)踐提供更有力的支持

2023-10-18 09:05:39

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白光干涉3D形貌測(cè)量儀

中圖儀器SuperViewW1白光干涉3D形貌測(cè)量儀以白光干涉技術(shù)原理，是對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量的儀器。它結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌

2023-10-17 14:24:27

納米級(jí)測(cè)量儀器：窺探微觀世界的利器

紋和表面粗糙度等的測(cè)量。線性可變差動(dòng)電容傳感器（LVDC），具有亞埃級(jí)分辨率，13um量程下可達(dá)0.01埃。高信噪比和低線性誤差，使得產(chǎn)品能夠掃描到幾納米至幾百微米臺(tái)階的形貌特征。除了上述所提及的儀器外

2023-10-11 14:37:46

一分鐘帶你了解EBSD的操作過(guò)程

不同型號(hào)掃描電鏡的操作步驟會(huì)有一些差異，各廠家的EBSD系統(tǒng)，特別是控制SEM的軟件都不一致。

2023-10-10 09:25:08

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CD-SEM是怎樣測(cè)線寬呢？CD-SEM與普通SEM有哪些區(qū)別？

CD-SEM,全名Critical Dimension Scanning Electron Microscopy，中文翻譯過(guò)來(lái)是：特征尺寸掃描電子顯微鏡。

2023-10-07 10:34:23

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白光干涉顯微形貌儀

SuperViewW系列白光干涉顯微形貌儀是以白光干涉技術(shù)原理，通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌，是一款用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的納米級(jí)測(cè)量儀器。產(chǎn)品簡(jiǎn)介

2023-09-26 14:12:49

季豐電子新熱場(chǎng)電子顯微鏡可幫助客戶快速獲取清晰的圖像

? 季豐電子目前擁有蔡司GeminiSEM500掃描電鏡SEM熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，可為客戶呈現(xiàn)任意樣品表面更強(qiáng)的信號(hào)和更豐富的細(xì)節(jié)信息；尤其在低的加速電壓下，可在避免樣品損傷的同時(shí)，快速獲取更高

2023-09-23 09:50:44

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臺(tái)階儀接觸式表面形貌測(cè)量儀

臺(tái)階儀是一種接觸式表面形貌測(cè)量儀器，可以對(duì)微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量。中圖儀器CP系列臺(tái)階儀接觸式表面形貌測(cè)量儀廣泛應(yīng)用于：大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所

2023-09-14 16:10:14

2023國(guó)產(chǎn)掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用研討會(huì)順利召開(kāi)

（合肥）技術(shù)有限公司承辦的“2023國(guó)產(chǎn)掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用研討會(huì)”在合肥召開(kāi)。來(lái)自中國(guó)科學(xué)院、北京大學(xué)、中南大學(xué)、中國(guó)農(nóng)科院、中國(guó)醫(yī)學(xué)科學(xué)院、浙江中醫(yī)藥大學(xué)等高?？蒲?/div>

2023-09-13 08:30:05

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?使用虹科數(shù)字化儀測(cè)量遙遠(yuǎn)恒星的直徑

加那利群島拉帕爾馬島的MAGIC 望遠(yuǎn)鏡是為了觀測(cè)發(fā)射高能伽馬射線的宇宙物體（即超新星或黑洞）而建造的。天文學(xué)家使用雙望遠(yuǎn)鏡測(cè)量恒星的直徑，以研究其整個(gè)生命周期的過(guò)程。對(duì)于地球上的望遠(yuǎn)鏡來(lái)說(shuō)，這是

2023-09-11 15:31:38

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使用虹科數(shù)字化儀測(cè)量遙遠(yuǎn)恒星的直徑

使用虹科數(shù)字化儀測(cè)量遙遠(yuǎn)恒星的直徑HongKe'sdigitizercards加那利群島拉帕爾馬島的MAGIC望遠(yuǎn)鏡是為了觀測(cè)發(fā)射高能伽馬射線的宇宙物體（即超新星或黑洞）而建造的。天文學(xué)家

2023-09-09 08:07:32

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功率放大器在掃描顯微鏡中的應(yīng)用有什么

功率放大器在掃描顯微鏡中起到了至關(guān)重要的作用。掃描顯微鏡是一種高分辨率的顯微鏡技術(shù)，它能夠以極高的精度觀察和研究樣品的表面形貌和結(jié)構(gòu)特征。而功率放大器則能夠提供所需的信號(hào)增益，使得掃描顯微鏡能夠獲得

2023-09-07 18:28:23

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聚焦離子束FIBSEM切片測(cè)試【博仕檢測(cè)】

聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng) FIB-SEM應(yīng)用聚焦離子束-掃描電鏡雙束系統(tǒng)主要用于表面二次電子形貌觀察、能譜面掃描、樣品截面觀察、微小樣品標(biāo)記以及TEM超薄片樣品的制備。 1.FIB切片

2023-09-05 11:58:27

蔡司掃描電鏡在第三代半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用成果

掃描電子顯微鏡-電子通道對(duì)比成像（SEM-ECCI）是在掃描電子顯微鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)取代了透射電子顯微鏡（TEM）在缺陷表征領(lǐng)域的部分功能。與TEM

2023-09-04 14:56:47

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EDS面掃、線掃、點(diǎn)掃的應(yīng)用

能譜儀（EDS）是一種快速分析樣品微區(qū)內(nèi)元素種類(lèi)及含量的重要工具，通常與掃描電鏡（SEM）、透射電鏡（TEM）組合使用，實(shí)現(xiàn)形貌與成分的對(duì)照。它的工作原理是：當(dāng)電子束掃描樣品時(shí)，不同元素被激發(fā)出來(lái)的x射線能量不同，通過(guò)探測(cè)這些特征X射線的能量與強(qiáng)度，可以確定樣品中的元素組成和含量。

2023-08-29 09:43:24

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白光干涉儀可以看顯微形貌嗎？

白光干涉儀是一種常見(jiàn)的測(cè)量設(shè)備，它能夠利用不同的光束干涉原理來(lái)觀察和測(cè)量顯微形貌。當(dāng)白色光經(jīng)過(guò)分束鏡分成兩束光線，這些光線在目標(biāo)物體上反射后重新合并。這樣，生成的光束會(huì)發(fā)生干涉，由此產(chǎn)生一系列明暗相間的干涉條紋。這些條紋的形狀和間距與目標(biāo)物體的表面形貌直接相關(guān)。

2023-08-23 10:35:21

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國(guó)儀量子高速掃描電子顯微鏡HEM6000

“在大規(guī)模成像場(chǎng)景中，常規(guī)掃描電鏡成像速度和自動(dòng)化程度都無(wú)法滿足應(yīng)用需求。例如，在芯片結(jié)構(gòu)成像應(yīng)用中，需要在幾周內(nèi)完成數(shù)百平方毫米區(qū)域的連續(xù)拍攝；在人類(lèi)腦圖譜研究中，需要對(duì)百億級(jí)神經(jīng)元進(jìn)行高分辨成像

2023-08-09 08:29:23

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蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)

蔡司掃描電子顯微鏡(sem掃描電鏡)對(duì)于材料科學(xué)、電子、地質(zhì)、物理、化工、農(nóng)醫(yī)、公安、食品和輕工等領(lǐng)域的科學(xué)研究，人們總是關(guān)心微觀形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成與宏觀物理或化學(xué)性質(zhì)之間的關(guān)系。光學(xué)顯微系統(tǒng)

2023-08-08 15:50:35

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蔡司掃描電鏡下金剛石形貌

金剛石礦物的晶體結(jié)構(gòu)屬于等軸晶系同極鍵四面體結(jié)構(gòu)。碳原子位于四面體的角部和中心，具有高度的對(duì)稱(chēng)性。晶胞中的碳原子以同極鍵連接，距離為154pm。。常見(jiàn)的晶形有八面體、菱形十二面體、立方體、四面體和六面體等。鉆石的應(yīng)用范圍非常廣泛，例如:工藝品和工業(yè)中的切割工具。石墨在高溫高壓下能形成人造金剛石，也是一種珍貴的寶石。中國(guó)也有制造鉆石的技術(shù)。需要注意的是，石墨和金剛石的物理性質(zhì)是完全不同的。鉆石有各種顏色，從無(wú)

2023-08-04 11:50:01

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SEM5000交付中國(guó)農(nóng)科院作科所重大平臺(tái)中心

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000正式上線使用左側(cè)設(shè)備為鎢燈絲掃描電鏡SEM3200右側(cè)設(shè)備為場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000近日，國(guó)儀量子場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000交付中國(guó)農(nóng)科院作科所重大

2023-07-31 23:30:26

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蔡司掃描電鏡在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用成果

掃描電鏡-電子通道襯度成像技術(shù)（SEM-ECCI）是一種在掃描電鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展在缺陷表征領(lǐng)域替代了一部分透射電鏡（TEM）的功能，相對(duì)透射電鏡分析而言

2023-07-31 15:59:56

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蔡司熱場(chǎng)掃描電鏡Sigma 300電子顯微鏡

蔡司熱場(chǎng)掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠?qū)Ω鞣N材質(zhì)的導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實(shí)現(xiàn)樣品表面微觀區(qū)域內(nèi)的成分和織構(gòu)分析

2023-07-26 10:48:06

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白光干涉儀測(cè)二維形貌怎么測(cè)

白光干涉儀利用白光干涉原理，通過(guò)測(cè)量光的相位變化來(lái)獲取物體表面的形貌信息。在工業(yè)制造、科學(xué)研究等領(lǐng)域，被廣泛用于測(cè)量精密器件的形貌、表面缺陷檢測(cè)等方面。白光干涉儀通過(guò)對(duì)干涉條紋進(jìn)行圖像處理，可以獲得

2023-07-21 11:05:48

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白光干涉儀測(cè)三維形貌怎么測(cè)

白光干涉儀測(cè)量的結(jié)果通常以二維形貌圖或三維形貌圖的形式展示。二維形貌圖是對(duì)干涉條紋進(jìn)行圖像處理得到的，顯示出被測(cè)物體表面的高低起伏。而三維形貌圖則是在二維圖像的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步還原出物體表面的立體形貌

2023-07-21 11:03:00

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蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SIGMA 500

蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SIGMA500采用了GEMINI電子束無(wú)交叉光路設(shè)計(jì)，打破了傳統(tǒng)設(shè)計(jì)中電子束交叉三次發(fā)生能量擴(kuò)散的局限性，束流大小適中，極大地降低色差對(duì)圖像質(zhì)量的影響;鏡筒內(nèi)置電子束加速器，無(wú)需

2023-07-14 16:26:59

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3D三維掃描儀的掃描測(cè)量技術(shù)原理

3D三維掃描儀測(cè)量測(cè)技術(shù)采用三角測(cè)量原理準(zhǔn)確獲取工件表面完整三維數(shù)據(jù)的高性能光學(xué)掃描量測(cè)系統(tǒng)是一款先進(jìn)的的解決方案。與傳統(tǒng)接觸式測(cè)量方法相比，非接觸式蔡司光學(xué)掃描測(cè)量方法更快，獲取的數(shù)據(jù)信息量更多

2023-07-11 15:11:39

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幾種常見(jiàn)的關(guān)于SEM IP的沖突

SEM IP是一種比較特殊的IP。它的基本工作就是不停地后臺(tái)掃描檢測(cè)FPGA配置RAM中的數(shù)據(jù)

2023-07-10 16:40:23

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EM科特 CUBE-Ⅱ臺(tái)式桌面掃描電鏡與傳統(tǒng)掃描電鏡的區(qū)別

EM科特（EmCrafts）Cube系列桌面式掃描電鏡，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。區(qū)別與傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機(jī)身，Cube系列占地面積小，便攜性能好，可遵照客戶服務(wù)指南任意移動(dòng)SEM設(shè)備。 EM

2023-07-05 15:24:02

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關(guān)于EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列的特點(diǎn)分析

的高性能高效率，大樣品倉(cāng)內(nèi)含5軸共心電動(dòng)樣品臺(tái)，可更輕松地測(cè)量大尺寸樣品。 EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) l大尺寸樣品分析? Veritas系列可以分析常規(guī)SEM無(wú)法分析的大尺寸樣品。例如：晶圓，磁盤(pán) l無(wú)損樣品分析?? 無(wú)需切割即可分析樣品。例如PCB，半導(dǎo)體圖案分析 l較重

2023-07-05 15:13:38

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SEM掃描電鏡工作原理，SEM掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用

等領(lǐng)域。SEM掃描電鏡分析實(shí)驗(yàn)室圖源：優(yōu)爾鴻信華南檢測(cè)中心SEM掃描電鏡工作原理SEM電鏡工作原理，主要基于聚焦的很窄的高能電子束來(lái)掃描樣品，通過(guò)光束與物質(zhì)間的相

2023-07-05 10:04:06

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AMEYA360談蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡Sigma系列

近日，蔡司中國(guó)新一代場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma系列新品線上發(fā)布會(huì)成功舉行。為了滿足新能源、新材料、電子半導(dǎo)體和集成電路、深海、航天、生命科學(xué)和考古學(xué)等熱門(mén)領(lǐng)域高分辨率成像和綜合分析的需要，蔡司

2023-07-04 15:39:24

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場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 500規(guī)格參數(shù)

今天三本精密儀器小編給您介紹場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM500規(guī)格參數(shù)及樣品制備要求：一、樣品要求（1）本儀器不接收磁性、易潮、液體、有機(jī)、生物、不耐熱、熔融蒸發(fā)、松動(dòng)粉末或碎屑等有揮發(fā)物樣品

2023-06-19 11:15:40

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喜提儀器行業(yè)大獎(jiǎng)！國(guó)儀量子場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000獲“3i獎(jiǎng)”

5月18日，2023第十六屆中國(guó)科學(xué)儀器發(fā)展年會(huì)(ACCSI2023)在北京雁棲湖國(guó)際會(huì)展中心盛大開(kāi)幕，并頒發(fā)“儀器及檢測(cè)3i獎(jiǎng)”。國(guó)儀量子自主研發(fā)的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000榮獲“3i

2023-05-30 17:19:16

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光學(xué)三維形貌測(cè)量概述

? 技術(shù)背景物體三維形貌提供豐富直觀的信息，在現(xiàn)代工業(yè)與生活中許多領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。的非接觸三維測(cè)量有著廣泛的應(yīng)用。經(jīng)典的外觀幾何測(cè)量諸如長(zhǎng)度，角度，平面度，直線度等的測(cè)量技術(shù)一般采用接觸式測(cè)試

2023-05-29 15:20:35

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芯明天壓電鏡架選型

芯明天壓電鏡架是一種利用壓電效應(yīng)來(lái)控制鏡片位置的光學(xué)機(jī)械。壓電效應(yīng)是指在某些晶體中，如壓電陶瓷，當(dāng)施加電場(chǎng)時(shí)，壓電陶瓷會(huì)發(fā)生形變，通過(guò)機(jī)械結(jié)構(gòu)將這種形變轉(zhuǎn)換為直線毫米級(jí)行程，該運(yùn)動(dòng)對(duì)鏡架進(jìn)行角度偏轉(zhuǎn)

2023-05-25 10:27:45

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白光干涉儀的原理和測(cè)量方法

等一百余項(xiàng)參數(shù)，廣泛應(yīng)用于光學(xué)，半導(dǎo)體，材料，精密機(jī)械等領(lǐng)域。SuperViewW1白光干涉儀白光干涉儀掃描原理在利用白光干涉測(cè)量表面三維形貌的過(guò)程中，對(duì)于被測(cè)表面上

2023-05-15 14:34:23

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基于銀納米顆粒/銅納米線復(fù)合材料的電化學(xué)無(wú)酶葡萄糖傳感器

研究人員首先對(duì)銀納米顆粒/銅納米線進(jìn)行了合成，并對(duì)制備的銅納米線和化學(xué)沉積后負(fù)載不同尺寸銀納米顆粒的銅納米線進(jìn)行了形貌和結(jié)構(gòu)表征（圖1）。隨后，利用制備的銀納米顆粒/銅納米線材料制備獲得銀納米顆粒/銅納米線電極，用于后續(xù)無(wú)酶葡萄糖傳感性能的研究。

2023-05-12 15:19:28

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rt_sem_control的使用場(chǎng)景是什么？

在信號(hào)量的api中有一個(gè)api: rt_sem_control ,目前只支持一個(gè)命令RT_IPC_CMD_RESET 即重置信號(hào)量值，在官方的demo中經(jīng)?？吹竭@種用法rt_sem

2023-05-05 17:26:37

培訓(xùn)通知｜國(guó)儀量子2023年第二期SEM線下應(yīng)用培訓(xùn)班

課程簡(jiǎn)介為持續(xù)給國(guó)儀量子SEM用戶提供高質(zhì)量的使用體驗(yàn)，國(guó)儀量子電鏡事業(yè)部將搭建一個(gè)用戶與國(guó)儀量子應(yīng)用專(zhuān)家之間進(jìn)行深入技術(shù)交流的平臺(tái)，定期開(kāi)展在線和線下的應(yīng)用培訓(xùn)課程。本次線下課程以小班形式進(jìn)行教學(xué)

2023-04-21 09:20:47

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喜報(bào)！國(guó)儀量子電子顯微鏡單年交付超100臺(tái)

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM5000SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡。先進(jìn)的鏡筒設(shè)計(jì)，高壓隧道技術(shù)（SuperTunnel）、低像差無(wú)漏磁物鏡設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了低電壓高分辨率成像，同時(shí)

2023-04-12 11:38:30

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HF5000球差電鏡功能介紹和亮點(diǎn)功能案例分析

季豐電子HITACHI HF5000功能豐富，借助超高的分辨率和獨(dú)特的探頭設(shè)計(jì)，可滿足客戶大多數(shù)極限應(yīng)用需求，比如高分辨單原子像、輕元素成像、表面納米級(jí)至原子級(jí)形貌觀察以及納米結(jié)構(gòu)至原子形貌mapping等，對(duì)于常規(guī)需求能輕松應(yīng)對(duì)。

2023-04-11 17:08:18

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3D建模服務(wù)三維掃描測(cè)量CAD畫(huà)圖服務(wù)

CASAIM智能制造利用三維激光掃描技術(shù)為廣大客戶提供了高效的三維掃描建模服務(wù)與三維尺寸測(cè)量服務(wù)。結(jié)合三維掃描儀，只要對(duì)實(shí)物進(jìn)行掃描，再進(jìn)行加工生產(chǎn)和逆向工程，可以更加高效開(kāi)發(fā)系列化產(chǎn)品。下面看看CASAIM智能制造在廣州3D建模服務(wù)三維掃描測(cè)量CAD畫(huà)圖服務(wù)。

2023-03-31 15:27:33

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PMMA顆粒形貌觀察和直徑測(cè)量(掃描電鏡，SEM)

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PMMA顆粒形貌觀察和直徑測(cè)量(掃描電鏡，SEM)